國瑞熱控金屬加熱盤突破海外技術壁壘,實現復雜結構產品量產能力。采用不銹鋼精密加工一體化成型,通過五軸聯動機床制造螺紋斜孔等復雜結構,加熱面粗糙度 Ra 小于 0.1μm。內置螺旋狀不銹鋼加熱元件,經真空焊接工藝與基體緊密結合,熱效率達 90%,升溫速率 25℃...
國瑞熱控光刻膠烘烤加熱盤以微米級溫控精度支撐光刻工藝,采用鋁合金基體與陶瓷覆層復合結構,表面粗糙度Ra小于0.1μm,減少光刻膠涂布缺陷!加熱面劃分6個**溫控區域,通過仿真優化的加熱元件布局,使溫度均勻性達±0.5℃,避免烘烤過程中因溫度差異導致的光刻膠膜厚...
國瑞熱控封裝測試**加熱盤聚焦半導體后道工藝需求,采用輕量化鋁合金材質,通過精密加工確保加熱面平整度誤差小于0.05mm,適配不同尺寸封裝器件的測試需求!加熱元件采用片狀分布設計,熱響應速度快,可在5分鐘內將測試溫度穩定在-40℃至150℃之間,滿足高低溫循環...
針對碳化硅襯底生長的高溫需求,國瑞熱控**加熱盤采用多加熱器分區布局技術,**溫度梯度可控性差的行業難題!加熱盤主體選用耐高溫石墨基材,表面噴涂碳化硅涂層,在2200℃高溫下仍保持結構穩定,熱導率達180W/mK,適配PVT法、TSSG法等主流生長工藝!內部劃...
國瑞熱控依托 10 余年半導體加熱盤研發經驗,提供全流程定制化研發服務,滿足客戶特殊工藝需求。服務流程涵蓋需求分析、方案設計、原型制作、性能測試、批量生產五大環節,可根據客戶提供的工藝參數(溫度范圍、控溫精度、尺寸規格、環境要求等),定制特殊材質(如高純石墨、...
國瑞熱控金屬加熱盤突破海外技術壁壘,實現復雜結構產品量產能力!采用不銹鋼精密加工一體化成型,通過五軸聯動機床制造螺紋斜孔等復雜結構,加熱面粗糙度Ra小于0.1μm!內置螺旋狀不銹鋼加熱元件,經真空焊接工藝與基體緊密結合,熱效率達90%,升溫速率25℃/分鐘,工...
針對半導體濕法工藝中溶液溫度控制需求,國瑞熱控濕法**加熱盤采用耐腐蝕不銹鋼材質,經電解拋光與鈍化處理,可耐受酸堿溶液長期浸泡無腐蝕!加熱盤內置密封式加熱元件,與溶液完全隔離,避免漏電風險,同時具備1500V/1min的電氣強度,使用安全可靠!通過底部加熱與側...
國瑞熱控半導體封裝加熱盤,聚焦芯片封裝環節的加熱需求,為鍵合、塑封等工藝提供穩定熱源。采用鋁合金與云母復合結構,兼具輕質特性與優良絕緣性能,加熱面功率密度可根據封裝規格調整,比較高達 2W/CM2。通過優化加熱元件排布,使封裝區域溫度均勻性達 95% 以上,確...
國瑞熱控建立半導體加熱盤全生命周期服務體系,為客戶提供從選型咨詢到報廢回收的全流程支持!售前提供工藝適配咨詢,結合客戶制程需求推薦合適型號或定制方案;售中提供安裝調試指導,確保加熱盤與設備精細對接,且提供操作培訓服務;售后提供7×24小時技術支持,設備故障響應...
國瑞熱控刻蝕工藝加熱盤,專為半導體刻蝕環節的精細溫控設計,有效解決刻蝕速率不均與圖形失真問題。產品采用藍寶石覆層與鋁合金基體復合結構,表面經拋光處理至鏡面效果,減少刻蝕副產物粘附,且耐受等離子體轟擊無損傷。加熱盤與靜電卡盤協同適配,通過底部導熱紋路優化,使熱量...
國瑞熱控封裝測試**加熱盤聚焦半導體后道工藝需求,采用輕量化鋁合金材質,通過精密加工確保加熱面平整度誤差小于0.05mm,適配不同尺寸封裝器件的測試需求!加熱元件采用片狀分布設計,熱響應速度快,可在5分鐘內將測試溫度穩定在-40℃至150℃之間,滿足高低溫循環...
針對等離子體刻蝕環境的特殊性,國瑞熱控配套加熱盤采用藍寶石覆層與氮化鋁基底的復合結構,表面硬度達莫氏 9 級,可耐受等離子體長期轟擊而無材料脫落。加熱盤內部嵌入鉬制加熱絲,經后嵌工藝固定,避免高溫下電極氧化影響加熱性能,工作溫度范圍覆蓋室溫至 500℃,控溫精...
國瑞熱控潔凈型陶瓷加熱板專為半導體潔凈室環境設計,采用無顆粒脫落的陶瓷材質與密封工藝,表面潔凈度達 Class 1 級,符合半導體行業的嚴格潔凈要求。其工作原理是厚膜發熱層通電后均勻發熱,陶瓷基體具備良好的化學穩定性,不產生揮發物,避免污染晶圓與設備。產品比較高...
國瑞熱控 12 英寸半導體加熱盤專為先進制程量產需求設計,采用氮化鋁陶瓷與高純銅復合基材,通過多道精密研磨工藝,使加熱面平面度誤差控制在 0.015mm 以內,完美貼合大尺寸晶圓的均勻受熱需求。內部采用分區式加熱元件布局,劃分 8 個**溫控區域,配合高精度鉑...
借鑒空間站 “雙波長激光加熱” 原理,國瑞熱控開發半導體激光加熱盤,適配極端高溫材料制備。采用氮化鋁陶瓷基體嵌入激光吸收層,表面可承受 3000℃以上局部高溫,配合半導體激光與二氧化碳激光協同加熱,實現 “表面強攻 + 內部滲透” 的加熱效果。加熱區域直徑可在...
針對12英寸及以上大尺寸晶圓的制造需求,國瑞熱控大尺寸半導體加熱盤以創新結構設計實現高效溫控!產品采用多模塊拼接式結構,單模塊加熱面積可達1500cm2,通過標準化接口可靈活組合成更大尺寸加熱系統,適配不同產能的生產線需求!每個模塊配備**溫控單元,通過**控...
針對碳化硅襯底生長的高溫需求,國瑞熱控**加熱盤采用多加熱器分區布局技術,**溫度梯度可控性差的行業難題。加熱盤主體選用耐高溫石墨基材,表面噴涂碳化硅涂層,在 2200℃高溫下仍保持結構穩定,熱導率達 180W/mK,適配 PVT 法、TSSG 法等主流生長工...
針對車載半導體高可靠性需求,國瑞熱控測試加熱盤適配AEC-Q100標準!采用**級鋁合金基材,通過-55℃至150℃高低溫循環測試5000次無變形,加熱面平整度誤差小于0.03mm!溫度調節范圍覆蓋-40℃至200℃,升降溫速率達30℃/分鐘,可模擬車載芯片在...
借鑒晶圓鍵合工藝的技術需求,國瑞熱控鍵合**加熱盤創新采用真空吸附與彈簧壓塊復合結構,通過彈簧壓力限制加熱平臺受熱膨脹,高溫下表面平整度誤差控制在0.02mm以內!加熱盤主體采用因瓦合金與氮化鋁復合基材,兼具低熱膨脹系數與高導熱性,溫度均勻性達±1.5℃,適配...
國瑞熱控清洗槽**加熱盤以全密封結構設計適配高潔凈需求,采用 316L 不銹鋼經電解拋光處理,表面粗糙度 Ra 小于 0.05μm,無顆粒脫落風險。加熱元件采用氟塑料密封封裝,與清洗液完全隔離,耐受酸堿濃度達 90% 的腐蝕環境,電氣強度達 2000V/1mi...
針對車載半導體高可靠性需求,國瑞熱控測試加熱盤適配 AEC-Q100 標準。采用**級鋁合金基材,通過 - 55℃至 150℃高低溫循環測試 5000 次無變形,加熱面平整度誤差小于 0.03mm。溫度調節范圍覆蓋 - 40℃至 200℃,升降溫速率達 30℃...
國瑞熱控刻蝕工藝加熱盤,專為半導體刻蝕環節的精細溫控設計,有效解決刻蝕速率不均與圖形失真問題。產品采用藍寶石覆層與鋁合金基體復合結構,表面經拋光處理至鏡面效果,減少刻蝕副產物粘附,且耐受等離子體轟擊無損傷。加熱盤與靜電卡盤協同適配,通過底部導熱紋路優化,使熱量...
國瑞熱控推出加熱盤節能改造方案,針對存量設備能耗高問題提供系統升級!采用石墨烯導熱涂層技術提升熱傳導效率,配合智能溫控算法優化加熱功率輸出,使單臺設備能耗降低20%以上!改造內容包括加熱元件更換、隔熱層升級與控制系統迭代,保留原有設備主體結構,改造成本*為新設...
國瑞熱控開發加熱盤智能診斷系統,通過多維度數據監測實現故障預判!系統集成溫度波動分析、絕緣性能檢測、功率曲線對比三大模塊,可識別加熱元件老化、密封失效等12類常見故障,提**0天發出預警!采用邊緣計算芯片實時處理數據,延遲小于100ms,通過以太網上傳至云平臺...
針對半導體退火工藝中對溫度穩定性的高要求,國瑞熱控退火**加熱盤采用紅外加熱與電阻加熱協同技術,實現均勻且快速的溫度傳遞!加熱盤主體選用低熱慣性的氮化硅陶瓷材質,熱導率達30W/mK,可在30秒內將晶圓溫度提升至900℃,且降溫過程平穩可控,避免因溫度驟變導致...
國瑞熱控高真空半導體加熱盤,專為半導體精密制造的真空環境設計,實現無污染加熱解決方案!產品采用特殊密封結構與高純材質制造,所有部件均經過真空除氣處理,在10??Pa高真空環境下無揮發性物質釋放,避免污染晶圓表面!加熱元件采用嵌入式設計,與基材緊密結合,熱量傳遞...
針對車載半導體高可靠性需求,國瑞熱控測試加熱盤適配AEC-Q100標準!采用**級鋁合金基材,通過-55℃至150℃高低溫循環測試5000次無變形,加熱面平整度誤差小于0.03mm!溫度調節范圍覆蓋-40℃至200℃,升降溫速率達30℃/分鐘,可模擬車載芯片在...
面向先進封裝 Chiplet 技術需求,國瑞熱控**加熱盤以高精度溫控支撐芯片互聯工藝。采用鋁合金與陶瓷復合基材,加熱面平面度誤差小于 0.02mm,確保多芯片堆疊時受熱均勻。內部采用微米級加熱絲布線,實現 1mm×1mm 精細溫控分區,溫度調節范圍覆蓋室溫至...
國瑞熱控金屬加熱盤突破海外技術壁壘,實現復雜結構產品量產能力。采用不銹鋼精密加工一體化成型,通過五軸聯動機床制造螺紋斜孔等復雜結構,加熱面粗糙度 Ra 小于 0.1μm。內置螺旋狀不銹鋼加熱元件,經真空焊接工藝與基體緊密結合,熱效率達 90%,升溫速率 25℃...
國瑞熱控推出半導體加熱盤**溫度監控軟件,實現加熱過程的數字化管理與精細控制!軟件具備實時溫度顯示功能,可通過圖表直觀呈現加熱盤各區域溫度變化曲線,支持多臺加熱盤同時監控,方便生產線集中管理!內置溫度數據存儲與導出功能,可自動記錄加熱過程中的溫度參數,存儲時間...