芯片制造對良率控制的精度要求極高，YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測試平臺輸出的多格式文件，自動(dòng)完成數(shù)據(jù)清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關(guān)鍵參數(shù)，系統(tǒng)可精確識別導(dǎo)致良率下降的工藝或設(shè)計(jì)問題，并以圖表形式展現(xiàn)芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報(bào)表引擎支持按周期自動(dòng)生成分析簡報(bào)，便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進(jìn)。這種精細(xì)化的數(shù)據(jù)治理能力，使企業(yè)在激烈競爭中保持質(zhì)量優(yōu)勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競爭力的重要工具。客戶可復(fù)用Mapping Over Ink處理結(jié)果進(jìn)行跨批次對比分析，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。江西晶圓MappingOverInk處理軟件

當(dāng)企業(yè)評估良率管理系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比時(shí)，功能覆蓋度與服務(wù)適配性成為關(guān)鍵考量。YMS系統(tǒng)提供從基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集到深度分析的多級配置選項(xiàng)，可根據(jù)企業(yè)規(guī)模與業(yè)務(wù)復(fù)雜度靈活調(diào)整。基礎(chǔ)模塊滿足自動(dòng)化數(shù)據(jù)接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監(jiān)控、異常自動(dòng)過濾及定制化報(bào)表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式，確保系統(tǒng)即插即用。價(jià)格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時(shí)保障長期使用價(jià)值。配合完善的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，系統(tǒng)全生命周期成本明顯降低。這種高性價(jià)比的部署模式，使企業(yè)在有限預(yù)算下仍能實(shí)現(xiàn)良率數(shù)據(jù)的閉環(huán)管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體行業(yè)的深刻理解，為客戶提供兼具經(jīng)濟(jì)性與擴(kuò)展性的YMS解決方案。湖北晶圓MappingOverInk處理解決方案上海偉諾信息科技Stacked Map功能，通過堆疊多片Wafer結(jié)合算法與卡控規(guī)則檢測mapping上存在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過程控制的智能質(zhì)量防線。

面對市場上良率管理系統(tǒng)供應(yīng)商良莠不齊的局面，技術(shù)自主性與行業(yè)適配能力成為選型主要標(biāo)準(zhǔn)。真正有效的系統(tǒng)需同時(shí)支持多品牌Tester設(shè)備、處理異構(gòu)數(shù)據(jù)格式，并具備深度分析與可視化能力。YMS系統(tǒng)已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的數(shù)據(jù)接口，覆蓋stdf、csv、log等十余種格式，實(shí)現(xiàn)一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時(shí)間趨勢與晶圓區(qū)域?qū)Ρ龋€能關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，精確定位根因。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)穩(wěn)定可控。這種軟硬協(xié)同的能力，使YMS在國產(chǎn)替代進(jìn)程中脫穎而出。上海偉諾信息科技有限公司依托多年項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)，持續(xù)驗(yàn)證其作為可靠供應(yīng)商的技術(shù)實(shí)力與服務(wù)承諾。上海偉諾信息科技GDBN功能，通過各種算法可以幫助客戶快速剔除芯片上異常風(fēng)險(xiǎn)芯片。

國產(chǎn)良率管理系統(tǒng)的價(jià)值在于將碎片化測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設(shè)備，處理十余種格式原始數(shù)據(jù)，確保從晶圓到芯片級的數(shù)據(jù)鏈完整可靠。系統(tǒng)不僅清洗異常記錄，還通過圖表直觀展示良率在不同時(shí)間段或晶圓象限的差異。這有助于工程師判斷是否為光刻對準(zhǔn)偏差或刻蝕不均所致。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)分析，可區(qū)分設(shè)計(jì)缺陷與制造變異，縮短問題排查周期。這種從“看見異常”到“理解根因”的能力，推動(dòng)質(zhì)量改進(jìn)從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的深入理解，推動(dòng)YMS成為國產(chǎn)替代的關(guān)鍵支撐。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)輸出結(jié)構(gòu)化日志，完整記錄處理過程滿足質(zhì)量追溯需求。四川自動(dòng)化Mapping Inkless工具

Mapping Over Ink處理通過虛擬篩選避免不良品流入封裝或市場環(huán)節(jié)，提升產(chǎn)品良率。江西晶圓MappingOverInk處理軟件

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個(gè)關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。江西晶圓MappingOverInk處理軟件

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來、有夢想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實(shí)守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場，我們一直在路上！