在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統一管理的挑戰時，YMS良率管理系統提供了一套端到端的解決方案。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統一分類，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續打磨YMS系統，助力客戶構建自主可控的良率管理能力。Mapping Over Ink處理算法模型覆蓋連續性、孤立型等多種失效模式，提升識別全面性。新疆可視化Mapping Inkless系統

面對工廠級良率管理的復雜性，單一數據源或手工報表已難以支撐全局質量洞察。YMS系統整合來自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備的stdf、xls、log等測試數據，通過自動化清洗與異常過濾，構建全廠統一的良率數據視圖。管理者可基于該視圖，從時間維度追蹤長期趨勢，或從空間維度比對不同機臺、批次間的性能差異，精確識別瓶頸環節。系統對WAT、CP、FT參數的聯動分析，進一步打通從前道到后道的質量鏈路。SYL與SBL的自動卡控機制，確保關鍵指標始終處于受控狀態。靈活的報表導出功能，則滿足從車間班組長到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導體發展需求，持續完善YMS系統，推動工廠實現數據驅動的質量躍升。山西自動化GDBC平臺Mapping Over Ink處理技術適用于消費類至車規級全品類芯片，覆蓋廣泛應用場景。

每周一上午趕制良率周報曾是質量團隊的固定負擔：手動匯總Excel、調整圖表、統一格式，耗時且易出錯。YMS內置報表模板可按日、周、月自動生成結構化報告，內容涵蓋SYL/SBL卡控狀態、區域缺陷對比、時間趨勢等關鍵指標，并支持一鍵導出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經營會議，客戶審計接收標準化PDF文檔，工程師則調取Excel原始數據深入挖掘。自動化流程確保全公司使用同一數據口徑，避免信息互相影響。報表制作時間從數小時降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表功能，推動企業決策從“經驗驅動”向“數據驅動”轉型。

當企業評估良率管理系統的投入產出比時，功能覆蓋度與服務適配性成為關鍵考量。YMS系統提供從基礎數據采集到深度分析的多級配置選項，可根據企業規模與業務復雜度靈活調整。基礎模塊滿足自動化數據接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監控、異常自動過濾及定制化報表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標準數據格式，確保系統即插即用。價格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時保障長期使用價值。配合完善的售前咨詢、售中方案優化與售后標準化服務，系統全生命周期成本明顯降低。這種高性價比的部署模式，使企業在有限預算下仍能實現良率數據的閉環管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體行業的深刻理解，為客戶提供兼具經濟性與擴展性的YMS解決方案。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，可以將測試后處理的芯片做降檔處理，降低測試Cost。

晶圓邊緣區域良率持續偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統在完成stdf、log等原始數據清洗后，依據晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現中心、過渡區與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區域的表現，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現象是偶發異常還是系統性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優化措施從“整體調整”轉向“精確干預”，明顯提升工藝調試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。Mapping Over Ink處理方案支持高密度邏輯與模擬芯片應用，覆蓋多品類半導體產品。河北半導體MappingOverInk處理平臺

Mapping Over Ink處理助力國產軟件生態建設，推動技術自主可控。新疆可視化Mapping Inkless系統

ZPAT 是一種基于統計學的芯片篩選技術，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產品的可靠性。在實際的應用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應對日益嚴苛的“零缺陷”質量挑戰，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數超出統計控制界限的異常芯片，從而構筑起一道基于動態統計過程控制的智能質量防線。 新疆可視化Mapping Inkless系統

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區的數碼、電腦行業中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發展奠定的良好的行業基礎，也希望未來公司能成為*****，努力為行業領域的發展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態度和不斷的完善創新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創佳績，一直以來，公司貫徹執行科學管理、創新發展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！