半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據，完成統一解析與結構化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區域對比分析，還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據；靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的功能完整性與行業適配性。Mapping Over Ink處理支持結果回溯，便于客戶驗證和審計分析結果。寧夏半導體MappingOverInk處理服務商

在半導體制造中，由于Fab制程的物理與化學特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區域。這一現象主要源于幾個關鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導致工藝一致性變差；其次，邊緣區域更容易出現厚度不均、殘留應力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導致邊緣芯片的電氣參數漂移、性能不穩定乃至早期失效風險急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執行“去邊”操作，便成為一項提升產品整體良率與可靠性的關鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續對這些潛在不良品進行不必要的封裝和測試，從而直接節約成本，并確保出廠產品的質量與可靠性要求。天津PAT服務GDBC算法利用聚類分析檢測空間聚類型失效模式，精確定位斑點劃痕類缺陷。

當測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數據時，傳統人工清洗往往需耗費數小時核對字段、剔除重復記錄。YMS系統通過自動解析引擎識別各類數據結構，檢測重復性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數據統一歸入標準化數據庫，確保后續分析基于一致、干凈的數據源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數據清洗作為YMS的基礎能力，支撐客戶實現高效、可靠的良率管理。

芯片制造過程中，良率波動若不能及時識別，可能導致整批產品報廢。YMS系統通過自動采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測試數據，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。標準化數據庫支持從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常點。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，可區分是設計問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節點，實現預防性質量干預。靈活報表工具按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS系統，助力芯片制造企業構建自主可控的質量管理能力。Mapping Over Ink處理強化封測環節質量防線，攔截潛在失效風險Die。

每周一上午趕制良率周報曾是質量團隊的固定負擔：手動匯總Excel、調整圖表、統一格式，耗時且易出錯。YMS內置報表模板可按日、周、月自動生成結構化報告，內容涵蓋SYL/SBL卡控狀態、區域缺陷對比、時間趨勢等關鍵指標，并支持一鍵導出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經營會議，客戶審計接收標準化PDF文檔，工程師則調取Excel原始數據深入挖掘。自動化流程確保全公司使用同一數據口徑，避免信息互相影響。報表制作時間從數小時降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表功能，推動企業決策從“經驗驅動”向“數據驅動”轉型。Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規級場景，保障晶圓表面完整性。天津PAT服務

Mapping Over Ink處理通過虛擬篩選避免不良品流入封裝或市場環節，提升產品良率。寧夏半導體MappingOverInk處理服務商

當封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時，每臺設備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導致數據接入困難。YMS內置多協議解析引擎，可自動識別各類測試平臺的數據結構與接口協議，無需定制開發即可完成數據采集與格式轉換。系統同步執行重復性檢測、缺失字段識別和異常值過濾，確保入庫數據準確完整。標準化數據庫對所有來源數據統一分類存儲，為后續良率分析提供一致基礎。這種“即插即用”的兼容能力，明顯降低多設備環境下的集成復雜度與維護成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際設備生態，持續優化YMS的適配廣度與穩定性。寧夏半導體MappingOverInk處理服務商

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