半導(dǎo)體測試是半導(dǎo)體制造過程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線，扮演著日益關(guān)鍵角色，單純依賴傳統(tǒng)電性測試的“通過/失敗”界限，已無法滿足對產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測試覆蓋度，構(gòu)筑更為堅固的質(zhì)量防線，采用GDBN技術(shù)來識別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風(fēng)險芯片，已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品不可或缺的必要手段。

細(xì)化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強(qiáng)大的適應(yīng)性，能夠精確滿足半導(dǎo)體設(shè)計公司與CP測試廠對提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求，成為客戶應(yīng)對高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴，共同構(gòu)筑面向未來的半導(dǎo)體質(zhì)量防線。 失效Die的空間分布特征是判斷工藝問題的關(guān)鍵依據(jù)，指導(dǎo)制程參數(shù)優(yōu)化。甘肅半導(dǎo)體Mapping Inkless服務(wù)

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動校驗(yàn)字段一致性，對缺失或錯位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時測試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動化處理機(jī)制，使工程師無需再耗費(fèi)數(shù)小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。廣東可視化GDBC服務(wù)商上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。

良率異常若依賴人工逐項(xiàng)排查，常需跨多個系統(tǒng)比對數(shù)據(jù)，耗時且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結(jié)果，構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫，并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動。當(dāng)某批次FT良率下降時，工程師可快速調(diào)取對應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時內(nèi)，大幅減少試錯成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力，讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。

芯片制造對良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過自動接入各類Tester平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持按時間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化，可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計兼容性問題。SYL與SBL參數(shù)的自動計算與卡控，為芯片級質(zhì)量提供雙重保障。報表工具支持按模板生成周期報告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā)，其YMS系統(tǒng)正成為國產(chǎn)芯片企業(yè)提升產(chǎn)品競爭力的關(guān)鍵助力。Mapping Over Ink處理方案不依賴國外軟件，具備完全自主可控的技術(shù)特性。

分散在不同Excel表格或本地數(shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項(xiàng)目調(diào)用和對比。YMS通過構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標(biāo)準(zhǔn)化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源。跨部門協(xié)作時，設(shè)計、工藝與質(zhì)量團(tuán)隊(duì)可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動文化的基礎(chǔ)設(shè)施。上海偉諾信息科技GDBN功能，通過各種算法可以幫助客戶快速剔除芯片上異常風(fēng)險芯片。中國臺灣晶圓PAT系統(tǒng)價格

Mapping Over Ink處理系統(tǒng)提供售前咨詢與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，保障客戶實(shí)施體驗(yàn)。甘肅半導(dǎo)體Mapping Inkless服務(wù)

在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實(shí)際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測試結(jié)果無法被正確解析，更會中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實(shí)際測試場景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測試帶來的成本與時間損失，更能構(gòu)建起一條從測試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅實(shí)的數(shù)據(jù)基石。 甘肅半導(dǎo)體Mapping Inkless服務(wù)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實(shí)守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場，我們一直在路上！