ZPAT 是一種基于統計學的芯片篩選技術，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產品的可靠性。在實際的應用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應對日益嚴苛的“零缺陷”質量挑戰，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數超出統計控制界限的異常芯片，從而構筑起一道基于動態統計過程控制的智能質量防線。 UPLY處理針對特定層間關聯缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。河北自動化GDBC工具

當多臺測試設備同時產出異構數據時，傳統人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設備的spd、jdf、zip等格式數據統一解析、清洗并結構化存儲，構建一致的數據底座。在此基礎上，結合WAT、CP、FT等關鍵測試階段的參數變化，系統能夠揭示影響良率的深層關聯，輔助工程師精確調整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應周期。報表功能支持按需定制并導出多種辦公格式，提升跨部門協同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預防批量性質量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質取勝”的宗旨，致力于打造適配國產半導體生態的智能良率管理工具。湖北自動化MappingOverInk處理工具SPAT模塊用于靜態參數偏離的篩查，固定測試限保障CP/FT環節穩定性。

面對海量測試數據，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統將良率與缺陷信息轉化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區域，時間序列圖揭示良率波動周期，參數散點圖暴露非線性關聯關系。例如，通過CP漏電與FT功能失效的散點分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數據分析門檻，使非數據專業人員也能參與質量討論。這種“所見即所得”的洞察方式，加速了從數據到行動的轉化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關鍵設計原則，提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。

作為國產半導體軟件生態的重要建設者，YMS系統的開發始終圍繞真實生產痛點展開。系統兼容主流Tester平臺，自動處理stdf、csv、log等十余種數據格式，完成從采集、清洗到整合的全流程自動化，消除信息孤島。其分析引擎支持多維度交叉比對，例如將晶圓邊緣良率偏低現象與刻蝕設備參數日志關聯，輔助工程師精確歸因。SYL/SBL卡控機制嵌入關鍵控制點，實現過程質量前置管理。配套的報表工具可按模板一鍵生成周期報告，大幅提升跨部門協同效率。更重要的是，系統背后有完整的售前咨詢、售中方案優化與售后標準化服務體系支撐，確保價值落地。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業積累，使YMS成為兼具技術深度與實施可靠性的國產替代選擇。Mapping Over Ink處理通過空間分析有效識別外觀損傷引起的隱性失效，提升可靠性。

當測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數據時，傳統人工清洗往往需耗費數小時核對字段、剔除重復記錄。YMS系統通過自動解析引擎識別各類數據結構，檢測重復性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數據統一歸入標準化數據庫，確保后續分析基于一致、干凈的數據源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數據清洗作為YMS的基礎能力，支撐客戶實現高效、可靠的良率管理。Mapping Over Ink處理明顯降低早期失效率，減少封裝環節的潛在失效風險。內蒙古可視化PAT服務商

客戶可復用Mapping Over Ink處理結果進行跨批次對比分析，優化生產工藝。河北自動化GDBC工具

為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環節中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統電性測試的盲區。一顆芯片可能電性參數測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續的封裝應力或終端應用中有極高早期失效的風險，是產品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關鍵問題：一是通過數據融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現從質量判定到生產執行的自動化，有效提升品質與效率。河北自動化GDBC工具

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優秀人才，集企業奇思，創經濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區的數碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業的方向，質量是企業的生命，在公司有效方針的領導下，全體上下，團結一致，共同進退，**協力把各方面工作做得更好，努力開創工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結經驗，才能繼續上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！