國產良率管理系統的價值在于將碎片化測試數據轉化為可執行的工藝洞察。YMS系統自動對接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設備，處理十余種格式原始數據，確保從晶圓到芯片級的數據鏈完整可靠。系統不僅清洗異常記錄，還通過圖表直觀展示良率在不同時間段或晶圓象限的差異。這有助于工程師判斷是否為光刻對準偏差或刻蝕不均所致。結合WAT、CP與FT參數聯動分析，可區分設計缺陷與制造變異，縮短問題排查周期。這種從“看見異常”到“理解根因”的能力，推動質量改進從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解，推動YMS成為國產替代的關鍵支撐。UPLY處理針對特定層間關聯缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。西藏可視化Mapping Inkless系統定制

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數據流，傳統手工轉換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統采用智能解析與清洗技術，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結構完整。系統支持批量歷史數據導入與實時測試流同步處理，無論數據來自ASL1000還是TR6850，均能統一轉化為可用于分析的標準數據集。在此基礎上，異常值被自動過濾，重復記錄被精確剔除，明顯提升數據可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數據特征，構建了這一高效可靠的數據預處理體系。黑龍江半導體Mapping Inkless平臺上海偉諾信息科技Stacked Map功能，通過堆疊多片Wafer結合算法與卡控規則檢測mapping上存在質量風險的芯片。

為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環節中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統電性測試的盲區。一顆芯片可能電性參數測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續的封裝應力或終端應用中有極高早期失效的風險，是產品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關鍵問題：一是通過數據融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現從質量判定到生產執行的自動化，有效提升品質與效率。

半導體制造過程中，良率數據的時效性與準確性直接決定工藝優化的效率。YMS系統通過自動采集ASL1000、SineTest、MS7000等測試平臺生成的多源數據，完成端到端的數據治理，消除因格式混亂或信息缺失導致的分析盲區。系統建立的標準化數據庫，使生產團隊能夠從時間軸觀察良率波動規律，或聚焦特定晶圓區域識別系統性缺陷，從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數的自動計算與閾值卡控，為過程質量提供前置預警。同時，系統內置的報表引擎可一鍵生成周期性分析簡報，并以PPT、Excel或PDF形式輸出，便于管理層掌握產線健康狀態。這種數據驅動的管理模式，明顯提升了制造穩定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專注半導體行業系統開發，其YMS產品正助力制造企業邁向精細化運營。DPAT模塊動態調整閾值以適應批次差異，分場景優化測試限設定。

車間管理者需要的是能即時反映產線狀態的良率監控工具，而非復雜的數據平臺。YMS車間方案聚焦高頻、高敏場景，自動匯聚來自現場Tester設備的測試結果，并實時進行數據清洗與異常過濾，確保看板展示的信息準確有效。通過標準化數據庫，系統支持按班次、機臺或產品型號動態呈現良率熱力圖與缺陷分布，幫助班組長在交接班前快速識別異常批次。當某區域連續出現低良率時，系統可聯動CP與FT數據判斷是否為共性工藝問題，并觸發預警。日報、周報自動生成并支持多格式導出，減少手工填報負擔。這種“輕部署、快響應、強落地”的設計思路，使良率管理真正融入日常生產節奏。上海偉諾信息科技有限公司基于對封測工廠運作邏輯的深刻洞察，持續優化YMS的車間適用性。Mapping Inkless避免油墨標記對先進封裝工藝的干擾，保持晶圓潔凈度。重慶半導體Mapping Inkless服務

Mapping Over Ink處理系統提供售前咨詢與售后標準化服務，保障客戶實施體驗。西藏可視化Mapping Inkless系統定制

當封測廠面臨多設備、多格式測試數據難以統一處理的困境時，YMS系統通過自動化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數據，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，明顯降低人工干預成本。標準化數據庫實現數據統一分類，支持從時間趨勢到晶圓區域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動點。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節點，強化過程質量防線。靈活報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協同效率。系統報價覆蓋軟件授權、必要定制及全周期服務，確保投入產出比合理。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS功能，助力客戶實現高性價比的良率管理。西藏可視化Mapping Inkless系統定制

上海偉諾信息科技有限公司在同行業領域中，一直處在一個不斷銳意進取，不斷制造創新的市場高度，多年以來致力于發展富有創新價值理念的產品標準，在上海市等地區的數碼、電腦中始終保持良好的商業口碑，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅強不屈的意志，和諧溫馨的工作環境，富有營養的公司土壤滋養著我們不斷開拓創新，勇于進取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因為取得了一點點成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰的準備，要不畏困難，激流勇進，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！