為滿足日益嚴苛的車規與工規質量要求，在晶圓測試階段引入三溫乃至多溫測試，已成為篩選高可靠性芯片的標準流程。這一測試旨在模擬芯片在極端環境下的工作狀態，通過高溫、常溫、低溫下的全面性能評估，有效剔除對環境敏感、性能不穩定的潛在缺陷品，從而大幅提升產品的質量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測試數據中識別并剔除這些因溫度敏感性過高而存在潛在風險的芯片，已成為業內高度關注并致力解決的關鍵課題。

為應對車規、工規產品在多溫測試中面臨的參數漂移挑戰，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術積累，開發了一套專門用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關鍵在于，超越傳統的、在各個溫度點進行孤立判定的測試模式，轉而通過對同一芯片在不同溫度下的參數表現進行動態追蹤與關聯性分析，從而精確識別并剔除那些對環境過度敏感、性能不穩定的潛在缺陷品。 Mapping Over Ink處理推動封測環節向預測性質量演進，實現主動風險管理。江西半導體PAT平臺

面對國產替代需求，選擇具備技術自主性和行業適配能力的良率管理系統廠商至關重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數據格式，實現從采集、解析到異常過濾的全流程自動化。其分析引擎支持時間序列追蹤、晶圓區域對比及WAT/CP/FT參數聯動，精確識別影響良率的關鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報表導出功能，進一步強化過程管控與決策支持。更重要的是，系統背后有完整的實施與服務體系支撐，確保從部署到優化的每個環節可靠落地。這種“軟硬協同”的能力，使YMS在國產軟件生態中具備強大競爭力。偉諾依托多年項目積累，持續驗證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業價值。江西半導體PAT平臺Mapping Over Ink處理因數據分析自動化大幅提升效率，縮短封測周期時間。

半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據，完成統一解析與結構化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區域對比分析，還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據；靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的功能完整性與行業適配性。

一套高效的良率管理系統開發方案，必須根植于真實生產場景的數據流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數據，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數據源頭的完整性與一致性。在此基礎上，系統構建標準化數據庫，實現對良率信息的統一分類與高效調用。分析層面，方案強調時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結合WAT、CP、FT參數變化，形成從現象到根因的完整證據鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關鍵控制點，實現預防性質量管理。同時，報表引擎支持按需生成周期報告，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費習慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業積累，將YMS方案打造為兼具實用性與擴展性的國產選擇。Mapping Over Ink數據處理流程全程自動化運行，大幅減少人工復核的人為干預。

面對國產半導體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統成為打通數據孤島、實現質量閉環的關鍵工具。系統自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數據，通過內置算法識別重復項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續分析基于高可信度數據源。在標準化數據庫支撐下，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝波動點。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注打造適配本土需求的YMS系統，助力構建中國半導體軟件生態。Mapping Over Ink處理后的數據完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計需求。湖南GDBC系統定制

Mapping Over Ink處理提升車規級芯片的長期可靠性，滿足嚴苛環境要求。江西半導體PAT平臺

當測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數據時，傳統人工清洗往往需耗費數小時核對字段、剔除重復記錄。YMS系統通過自動解析引擎識別各類數據結構，檢測重復性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數據統一歸入標準化數據庫，確保后續分析基于一致、干凈的數據源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數據清洗作為YMS的基礎能力，支撐客戶實現高效、可靠的良率管理。江西半導體PAT平臺

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！