為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環節中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統電性測試的盲區。一顆芯片可能電性參數測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續的封裝應力或終端應用中有極高早期失效的風險，是產品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關鍵問題：一是通過數據融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現從質量判定到生產執行的自動化，有效提升品質與效率。Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導工藝改進方向。新疆MappingOverInk處理平臺

當封測廠每日面對來自數十臺測試機臺的海量異構數據時，傳統手工匯總方式已難以滿足實時質量管控需求。YMS系統通過自動化流程，即時采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設備輸出的原始測試數據，剔除重復、缺失與異常記錄，構建高可信度的數據底座。標準化數據庫支持從時間軸追蹤良率波動，或聚焦晶圓特定區域識別系統性缺陷，結合WAT、CP、FT參數變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當某批次FT良率驟降時，系統可聯動CP數據判斷是否為封裝環節引入問題，縮短排查周期達數小時。圖表化界面與日報、周報、月報自動生成機制，使管理層能基于一致數據源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解，將YMS打造為數據驅動質量改進的關鍵工具。甘肅可視化MappingOverInk處理系統定制Mapping Over Ink處理系統持續優化以適配先進制程需求，保持技術優勢。

在晶圓制造過程中，制程偏差是導致良率損失的主要因素之一，其典型表現即為晶圓上Die的區域性集群失效。此類失效并非隨機分布，而是呈現出與特定制程弱點緊密相關的空間模式，例如由光刻熱點、CMP不均勻或熱應力集中所導致的失效環、邊緣帶或局部區塊。然而，一個更為隱蔽且嚴峻的挑戰在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個“受影響區”。該區域內的Die雖然未發生catastrophicfailure，其內部可能已產生參數漂移或輕微損傷，在常規的CP測試中，它們仍能滿足規格下限而呈現出“Pass”的結果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續封裝應力或終端應用的嚴苛環境下，早期失效的風險將明細高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規的良率分析已不足以應對。必須借助特定的空間識別算法，對晶圓測試圖譜進行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據此將失效區周圍一定范圍內的“PassDie”也定義為高風險單元并予以剔除。這一操作是構建高可靠性產品質量防線中至關重要的一環。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數據流，傳統手工轉換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統采用智能解析與清洗技術，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結構完整。系統支持批量歷史數據導入與實時測試流同步處理，無論數據來自ASL1000還是TR6850，均能統一轉化為可用于分析的標準數據集。在此基礎上，異常值被自動過濾，重復記錄被精確剔除，明顯提升數據可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數據特征，構建了這一高效可靠的數據預處理體系。Mapping Over Ink處理系統在質量事件發生時自動觸發設備維護工單，實現預防性維護。

半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據，完成統一解析與結構化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區域對比分析，還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據；靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的功能完整性與行業適配性。PAT模塊通過統計方法識別電性參數異常但功能Pass的單元，剔除隱性風險芯片。新疆MappingOverInk處理平臺

客戶可復用Mapping Over Ink處理結果進行跨批次對比分析，優化生產工藝。新疆MappingOverInk處理平臺

每日晨會前臨時整理良率報表，常因數據口徑不一引發爭議。YMS系統按預設模板自動生成日報、周報、月報，內容涵蓋良率趨勢、區域缺陷分布、WAT/CP/FT關聯分析等關鍵指標，并支持一鍵導出為PPT、Excel或PDF格式。生產主管可用PPT版直接匯報，質量工程師調取Excel原始數據深入挖掘，客戶審計則接收標準化PDF文檔。自動化流程消除手工匯總誤差，確保全公司使用同一套可靠數據。報告生成時間從數小時壓縮至分鐘級，大幅提升跨部門協同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表工具，讓數據真正服務于決策閉環。新疆MappingOverInk處理平臺

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