面對國產(chǎn)半導(dǎo)體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系統(tǒng)自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數(shù)據(jù)，通過內(nèi)置算法識別重復(fù)項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標準化數(shù)據(jù)庫支撐下，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植迹焖俣ㄎ还に嚥▌狱c。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質(zhì)量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注打造適配本土需求的YMS系統(tǒng)，助力構(gòu)建中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)。Mapping Over Ink處理助力國產(chǎn)軟件生態(tài)建設(shè)，推動技術(shù)自主可控。寧夏GDBC解決方案

當封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時，每臺設(shè)備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導(dǎo)致數(shù)據(jù)接入困難。YMS內(nèi)置多協(xié)議解析引擎，可自動識別各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)與接口協(xié)議，無需定制開發(fā)即可完成數(shù)據(jù)采集與格式轉(zhuǎn)換。系統(tǒng)同步執(zhí)行重復(fù)性檢測、缺失字段識別和異常值過濾，確保入庫數(shù)據(jù)準確完整。標準化數(shù)據(jù)庫對所有來源數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類存儲，為后續(xù)良率分析提供一致基礎(chǔ)。這種“即插即用”的兼容能力，明顯降低多設(shè)備環(huán)境下的集成復(fù)雜度與維護成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際設(shè)備生態(tài)，持續(xù)優(yōu)化YMS的適配廣度與穩(wěn)定性。青海MappingOverInk處理系統(tǒng)定制Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯，確保數(shù)據(jù)在供應(yīng)鏈中無縫傳遞。

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風險急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對這些潛在不良品進行不必要的封裝和測試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。

因測試數(shù)據(jù)錯誤導(dǎo)致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測或錯誤工藝調(diào)整，造成材料與時間雙重浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗，自動剔除異常記錄，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時，系統(tǒng)會標記該記錄而非直接納入統(tǒng)計，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗證，進一步排除孤立異常點。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上，明顯降低返工率和報廢風險。這種前置質(zhì)量控制機制，將成本節(jié)約從“事后補救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴謹?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。Mapping Inkless輸出數(shù)據(jù)可直接用于客戶交付，支持快速驗證。

面對海量測試數(shù)據(jù)，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域，時間序列圖揭示良率波動周期，參數(shù)散點圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如，通過CP漏電與FT功能失效的散點分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數(shù)據(jù)分析門檻，使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見即所得”的洞察方式，加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計原則，提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。參數(shù)漂移趨勢在PAT分析中清晰呈現(xiàn)，實現(xiàn)早期風險預(yù)警。青海MappingOverInk處理系統(tǒng)定制

Mapping Over Ink處理系統(tǒng)與MES、SPC平臺實現(xiàn)數(shù)據(jù)聯(lián)動，構(gòu)建智能化質(zhì)量管理閉環(huán)。寧夏GDBC解決方案

半導(dǎo)體設(shè)計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實現(xiàn)時間趨勢與區(qū)域?qū)Ρ确治觯€能通過WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計風險，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據(jù)；靈活報表引擎則支持按項目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準則，持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。寧夏GDBC解決方案

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場，我們一直在路上！