當封測廠面臨多設備、多格式測試數據難以統一處理的困境時，YMS系統通過自動化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數據，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，明顯降低人工干預成本。標準化數據庫實現數據統一分類，支持從時間趨勢到晶圓區域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動點。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節點，強化過程質量防線。靈活報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協同效率。系統報價覆蓋軟件授權、必要定制及全周期服務，確保投入產出比合理。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS功能，助力客戶實現高性價比的良率管理。上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質量風險芯片。上海晶圓GDBC

半導體測試是半導體制造過程中質量的一道關鍵防線，扮演著日益關鍵角色，單純依賴傳統電性測試的“通過/失敗”界限，已無法滿足對產品“零缺陷”的追求。為了大力提升測試覆蓋度，構筑更為堅固的質量防線，采用GDBN技術來識別并剔除那些位于“不良環境”中的高風險芯片，已成為車規、工規等類產品不可或缺的必要手段。

細化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強大的適應性，能夠精確滿足半導體設計公司與CP測試廠對提升產品可靠性的關鍵訴求，成為客戶應對高質量挑戰的可靠伙伴，共同構筑面向未來的半導體質量防線。 甘肅半導體MappingOverInk處理系統定制Mapping Over Ink處理通過空間分析有效識別外觀損傷引起的隱性失效，提升可靠性。

當封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時，每臺設備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導致數據接入困難。YMS內置多協議解析引擎，可自動識別各類測試平臺的數據結構與接口協議，無需定制開發即可完成數據采集與格式轉換。系統同步執行重復性檢測、缺失字段識別和異常值過濾，確保入庫數據準確完整。標準化數據庫對所有來源數據統一分類存儲，為后續良率分析提供一致基礎。這種“即插即用”的兼容能力，明顯降低多設備環境下的集成復雜度與維護成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際設備生態，持續優化YMS的適配廣度與穩定性。

在半導體工廠高頻率、多設備并行的測試環境中，人工處理異構數據極易延誤問題響應。YMS系統通過自動化流程，實時匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設備的多格式原始數據，完成統一解析與清洗，消除因格式差異導致的信息斷層。結構化的數據庫使良率數據可追溯、可比對，支持從批次到晶圓級別的精細監控。當某一批次良率驟降時，系統可迅速調取對應區域的缺陷熱力圖，并關聯WAT、CP、FT參數變化，輔助工程師在數小時內鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動預警，防止不良品流入下一環節。周期性報表一鍵生成并支持多格式導出，滿足從產線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科技有限公司憑借對封測與制造場景的深入理解，持續優化YMS的數據驅動能力。Mapping Over Ink處理因數據分析自動化大幅提升效率，縮短封測周期時間。

在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統一管理的挑戰時，YMS良率管理系統提供了一套端到端的解決方案。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統一分類，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續打磨YMS系統，助力客戶構建自主可控的良率管理能力。參數漂移趨勢在PAT分析中清晰呈現，實現早期風險預警。山東自動化GDBC系統價格

上海偉諾信息科技SPAT功能，通過結合測試數據去除超出規范的芯片并生成新的Mapping。上海晶圓GDBC

為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環節中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統電性測試的盲區。一顆芯片可能電性參數測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續的封裝應力或終端應用中有極高早期失效的風險，是產品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關鍵問題：一是通過數據融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現從質量判定到生產執行的自動化，有效提升品質與效率。上海晶圓GDBC

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！