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X射線衍射儀在環境科學中的應用：污染物檢測與土壤修復監測 土壤修復過程監測（1）穩定化修復評估磷酸鹽穩定化：監測Pb污染土壤中磷氯鉛礦（Pb?(PO?)?Cl）的生成（證明修復有效性）。鐵基材料修復：追蹤零價鐵（Fe?）向針鐵礦（α-FeOOH）或磁鐵礦（Fe?O?）的轉化過程。（2）生物修復機理研究微生物礦化作用：檢測鈾污染場地中鈾礦（如鈣鈾云母Ca(UO?)?(PO?)?）的生物成因結晶。植物提取效應：分析根際土壤礦物相變（如Mn污染土壤中Birnessite（δ-MnO?）的溶解）。（3）熱處理/化學氧化修復高溫相變：監測有機污染土壤熱脫附過程中黏土礦物的結構變化（如高嶺石→偏...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在超導材料精細結構分析中的應用雖面臨挑戰（如弱信號、復雜相組成），但通過針對性優化，仍可為其合成、相純度和結構演化研究提供關鍵數據支持。 銅氧化物高溫超導材料（如YBCO、BSCCO）關鍵問題：氧含量控制：YBa?Cu?O?-δ中δ值通過晶格參數（如c軸長度）反映。相純度：區分超導相（正交相）與非超導四方相。臺式XRD方案：高角度區掃描：聚焦于（00l）衍射峰（如005峰）精確測定c軸參數。原位退火附件：監測氧摻雜/脫附過程中的結構演變（需氣氛控制）。案例：通過c軸變化反推δ值：c ≈ 11.68 ?（δ=0） → 11.80 ?（δ=0.5）。 評...

電子設備的性能和可靠性在很大程度上取決于其內部元件薄膜的厚度。傳統的薄膜厚度檢測方法往往存在操作復雜、測量精度不高等問題。粉末多晶衍射儀的出現為電子設備制造企業帶來了新的希望。它能夠快速、準確地測量電子元件薄膜的厚度，幫助工程師及時發現薄膜厚度的微小變化，從而采取相應的措施進行調整和優化。與傳統檢測方式相比，粉末多晶衍射儀的檢測過程更加簡便、高效，且不會對電子元件造成任何損傷。贏洲科技的粉末多晶衍射儀，以其先進的技術和質量的服務，為電子設備制造企業提供了一種可靠的薄膜厚度檢測手段，有助于提升電子設備的性能和可靠性。測定金屬合金的相組成比例。小型臺式進口多晶X射線衍射儀應用于陶瓷與玻璃晶相結構分...

YBCO薄膜的氧含量調控目標：確定退火后薄膜的δ值。步驟：測量（005）峰位，計算c軸長度。根據校準曲線（cvs.δ）確定氧含量。檢測雜相（如BaCuO?）確保薄膜純度。設備：RigakuSmartLab，配備高溫腔室。案例2：鐵基超導體SmFeAsO??xFx的摻雜分析目標：評估F摻雜對晶格的影響。步驟：精修a、c軸參數，觀察F摻雜引起的收縮。分析（002）峰寬變化，評估晶格畸變。數據：x=0.1時，c軸縮短0.3%，與Tc提升相關。小型臺式多晶XRD在超導材料研究中可高效完成相鑒定、氧含量估算、摻雜效應分析等任務，尤其適合實驗室日常合成質量控制。分析輔料（如乳糖）的晶型狀態。桌面型XRD粉...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在復雜材料精細結構分析中的應用雖然受限于其分辨率和光源強度，但通過優化實驗設計和數據處理，仍可在多個行業發揮重要作用。 半導體與電子材料分析目標：高k介電薄膜（如HfO?）的晶相（單斜/四方）與漏電流關系。外延層與襯底的晶格失配（應變/弛豫）。挑戰：超薄膜（<100 nm）信號弱，襯底干擾強。解決方案：掠入射XRD（GI-XRD）：增強薄膜信號（需配備**光學系統）。倒易空間映射（RSM）：分析外延層缺陷（部分臺式設備支持）。案例：SiGe/Si異質結的應變弛豫度計算。 礦場品位評估時間從3天縮短至15分鐘。小型臺式多晶X射線衍射儀應用于高分子材料分...

X射線衍射儀在電子與半導體工業中的應用 半導體材料與器件表征（1）單晶襯底質量評估晶格參數測定：精確測量硅(Si)、鍺(Ge)、碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等襯底的晶格常數，確保與外延層匹配示例：SiC襯底的4H/6H多型體鑒別（晶格常數差異*0.1%）結晶完整性分析：通過搖擺曲線（Rocking Curve）評估單晶質量（半高寬FWHM反映位錯密度）檢測氧沉淀、滑移位錯等缺陷（應用于SOI晶圓檢測）（2）外延薄膜表征應變/應力分析：測量SiGe/Si、InGaAs/GaAs等異質結中的晶格失配應變通過倒易空間映射（RSM）區分彈性應變與塑性弛豫案例：FinFET中Si溝道層的...

X射線衍射儀在地質與礦物學中的應用：巖石、土壤及礦產資源的鑒定X射線衍射（XRD）是地質與礦物學研究中的**分析技術，能夠快速、準確地鑒定巖石、土壤及礦產資源中的礦物組成、晶體結構及相變行為。XRD技術具有非破壞性、高精度和廣譜適用性等特點，廣泛應用于礦產資源勘探、環境地質、工程地質及行星科學等領域。 土壤成分與風化過程分析土壤礦物組成：分析黏土礦物的類型（如蒙脫石的膨脹性影響土壤持水性）。檢測次生礦物（如鐵氧化物、三水鋁石），研究風化程度。土壤污染評估：鑒定重金屬賦存礦物（如PbSO?、CdCO?），評估環境風險。示例：熱帶紅壤中高嶺石與赤鐵礦的比值可反映風化強度。 分析MOFs材...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在超導材料精細結構分析中的應用雖面臨挑戰（如弱信號、復雜相組成），但通過針對性優化，仍可為其合成、相純度和結構演化研究提供關鍵數據支持。 MgB?及其他常規超導體關鍵問題：雜質相檢測：合成中易生成MgO（衍射峰與MgB?部分重疊）。碳摻雜效應：C替代B導致晶格收縮（a軸變化）。解決方案：Kα?剝離：軟件去除Kα?峰干擾，提高峰位精度。納米尺度分析：Scherrer公式估算晶粒尺寸（影響磁通釘扎）。（4）新型超導材料探索（如氫化物、拓撲超導體）應用場景：高壓合成產物：檢測微量超導相（如H?S的立方相）。拓撲絕緣體復合：Bi?Se?/超導異質結的界面應變...

X射線衍射儀（XRD）是一種基于X射線與晶體材料相互作用原理的分析儀器，通過測量衍射角與衍射強度，獲得材料的晶體結構、物相組成、晶粒尺寸、應力狀態等信息。 法醫學：微量物證分析與**鑒定在刑事偵查中，XRD可用于分析殘留物、**、油漆碎片等微量物證。例如，**中的硝酸銨、**等成分具有特征衍射峰，XRD可快速識別。在**檢測中，XRD可區分不同晶型的**或**，為案件偵破提供關鍵證據。此外，XRD還可用于分析***擊殘留物、玻璃碎片等，輔助犯罪現場重建。 交通事故現場金屬碎片溯源。小型臺式粉末衍射儀售后服務在頁巖氣勘探領域，成本控制是一個重要的考量因素。傳統的勘探設備不僅價格昂貴，而...

X射線衍射儀（XRD）在材料科學與工程中是一種**分析工具，廣泛應用于金屬、陶瓷及復合材料的研究與開發。其通過分析材料的衍射圖譜，提供晶體結構、相組成、應力狀態等關鍵信息 金屬材料物相鑒定：確定合金中的相組成（如鋼中的奧氏體、馬氏體、碳化物等），輔助熱處理工藝優化。識別金屬間化合物（如Ni?Al、TiAl）或雜質相。殘余應力分析：通過衍射峰偏移計算宏觀/微觀應力，評估焊接、軋制或噴丸處理后的應力分布。織構分析：測定冷軋或拉伸變形后的擇優取向（如鋁箔的{111}織構），指導成形工藝。晶粒尺寸與微觀應變：通過衍射峰寬化（Scherrer公式或Williamson-Hall法）估算納米晶金...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在復雜材料精細結構分析中的應用雖然受限于其分辨率和光源強度，但通過優化實驗設計和數據處理，仍可在多個行業發揮重要作用。 醫藥與生物材料分析目標：藥物多晶型（如阿司匹林Form I/II）鑒別。生物陶瓷（如羥基磷灰石）的結晶度與生物相容性。挑戰：有機分子衍射峰寬且弱。解決方案：低溫附件：減少熱振動引起的峰寬化。變溫XRD：研究相變溫度（如脂質體相行為）。 小型臺式多晶XRD在復雜材料精細結構分析中可通過硬件優化、數據處理創新和聯用技術彌補其固有局限性，適用于新能源、半導體、催化等領域的快速篩查與工藝優化。 電子與半導體工業薄膜厚度分析，粉末多晶衍...

半導體材料的薄膜厚度對器件的性能和可靠性有著至關重要的影響。傳統的檢測方法往往需要耗費大量的時間和精力，且檢測精度有限。粉末多晶衍射儀的出現為半導體材料檢測帶來了新的突破。它能夠快速、準確地測量半導體材料薄膜的厚度，為生產工藝的優化提供了有力的數據支持。與傳統檢測方式相比，粉末多晶衍射儀的檢測速度快、精度高，且不會對半導體材料造成任何損傷。贏洲科技的粉末多晶衍射儀，以其 的性能和可靠的質量，為半導體材料檢測提供了一種高效、精細的解決方案，幫助企業提高檢測效率，降低檢測成本，確保產品質量。分析陶瓷材料的晶型轉變溫度。小型臺式定性粉末X射線衍射儀測殘余應力 小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在電...

半導體產業是現代科技的 ，薄膜厚度的精確控制是半導體生產的關鍵環節之一。粉末多晶衍射儀在半導體薄膜厚度分析中發揮著重要作用。它能夠對半導體材料表面的薄膜進行非接觸式測量，快速獲取薄膜厚度數據，為生產過程中的質量控制提供有力支持。與傳統檢測手段相比，粉末多晶衍射儀的檢測速度快、精度高，且不會對半導體材料造成損傷。贏洲科技的粉末多晶衍射儀，以其 的性能和穩定的表現，成為半導體企業薄膜厚度檢測的優先設備，幫助企業確保產品質量，提高生產效率。檢測API（活性成分）的晶型純度。便攜式XRD衍射儀售后 X射線衍射儀在制藥行業中的應用：藥物多晶型研究與質量控制 X射線衍射（XRD）技術是制藥行業藥物...

X射線衍射儀（XRD）在材料科學與工程中是一種**分析工具，廣泛應用于金屬、陶瓷及復合材料的研究與開發。其通過分析材料的衍射圖譜，提供晶體結構、相組成、應力狀態等關鍵信息 金屬材料物相鑒定：確定合金中的相組成（如鋼中的奧氏體、馬氏體、碳化物等），輔助熱處理工藝優化。識別金屬間化合物（如Ni?Al、TiAl）或雜質相。殘余應力分析：通過衍射峰偏移計算宏觀/微觀應力，評估焊接、軋制或噴丸處理后的應力分布。織構分析：測定冷軋或拉伸變形后的擇優取向（如鋁箔的{111}織構），指導成形工藝。晶粒尺寸與微觀應變：通過衍射峰寬化（Scherrer公式或Williamson-Hall法）估算納米晶金...

隨著科技的不斷進步，便攜式粉末多晶衍射儀在頁巖氣勘探領域的應用前景越來越廣闊。它不僅能夠為勘探人員提供快速準確的現場分析數據，還能夠與其他勘探技術和設備相結合，形成一套更加完善的勘探系統。例如，它可以與地質雷達、地震勘探等技術相結合，從多個角度對頁巖氣藏進行綜合分析，提高勘探的準確性和可靠性。此外，隨著大數據和人工智能技術的發展，便攜式粉末多晶衍射儀還可以將采集到的數據進行云端存儲和分析，通過機器學習算法對數據進行深度挖掘，進一步提高勘探效率和準確性。贏洲科技作為便攜式粉末多晶衍射儀領域的佼佼者，一直致力于推動該技術在頁巖氣勘探領域的應用和發展。他們不斷投入研發資源，對產品進行升級和優化，以滿...

X射線衍射在能源行業中的應用：核燃料與燃料電池材料研究 核燃料材料研究（1）核燃料芯體表征鈾/钚氧化物燃料：定量分析UO?/PuO?固溶體的晶格參數變化（如(U,Pu)O?的螢石結構收縮率）檢測輻照損傷導致的缺陷簇（衍射峰寬化分析）新型燃料體系：UN（氮化鈾）與UC（碳化鈾）的相純度控制（避免U?N?雜質相）事故容錯燃料（ATF）中SiC包覆層的結晶質量評估（2）輻照效應研究原位輻照實驗：同步輻射XRD實時監測UO?晶格腫脹（中子輻照模擬裝置聯用）裂變產物相鑒定（如Mo-Ru-Pd合金相的析出行為）輻照后檢驗（PIE）：乏燃料中次生相的鑒別（如BaMoO?、Cs?UO?）（3）核廢料...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在電子與半導體工業中扮演著關鍵角色，能夠對器件材料的晶體結構進行精確表征，為工藝優化和質量控制提供科學依據。 半導體器件材料分析的**需求外延層質量：晶格失配度與應變狀態薄膜物相：高k介質膜的晶相控制界面反應：金屬硅化物形成動力學工藝監控：退火/沉積過程的相變追蹤。 外延層結構分析檢測目標：SiGe/Si異質結界面的應變弛豫GaN-on-Si的位錯密度評估技術方案：倒易空間映射（RSM）：測量（004）和（224）衍射評估應變狀態計算晶格失配度：Δa/a? = (a??? - a???)/a???搖擺曲線分析：半高寬（FWHM）<100 arc...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在環境科學領域的污染物結晶相分析中發揮著關鍵作用，能夠準確鑒定復雜環境介質中的晶體污染物，為污染溯源、風險評估和治理技術開發提供科學依據。 工業固廢鑒定典型廢物相：赤泥：水合鋁硅酸鈉（24.1°）、方鈉石（19.5°）鋼渣：硅酸二鈣（32.1°）、RO相（FeO-MgO-MnO固溶體，42.8°）資源化評估：鋼渣中γ-C?S（硅酸二鈣，29.4°）含量>40%可作為水泥原料。 水體重金屬沉淀常見沉淀相：羥基磷酸鉛（Pb?(PO?)?OH，31.7°）硫化鎘（CdS，44.0°）治理監測：通過ZnO（36.2°）→ZnS（28.5°）轉化率評估硫...

小型臺式多晶XRD衍射儀在殘余應力測量方面的行業應用雖受限于其精度和穿透深度，但在多個領域仍能發揮重要作用，尤其適合快速篩查、質量控制和小型樣品分析。 地質與礦業應用場景：構造應力分析：巖石（如石英、方解石）的晶格應變，推斷地質歷史應力場。礦物加工：破碎/研磨后礦物顆粒的微觀應變，優化選礦工藝。局限性：多相混合樣品需配合能譜（EDS）區分礦物相。低應力（<50 MPa）可能被地質背景噪聲掩蓋。案例：斷層泥中黏土礦物的應力定向性分析，輔助地震機制研究。 便攜式XRD通過其即時性（現場5分鐘出結果）。桌面型粉末X射線衍射儀應用于金屬材料晶粒結構分析 X射線衍射儀在地質與礦物學中的應用：...

X射線衍射儀在環境科學中的應用：污染物檢測與土壤修復監測 在污染物鑒定、土壤修復監測和環境風險評估方面。通過分析環境樣品（如土壤、沉積物、大氣顆粒物）中的礦物組成和晶體結構，XRD能夠提供污染物賦存狀態、遷移轉化規律及修復效果等關鍵信息。 污染物檢測與表征（1）重金屬污染物的形態分析關鍵應用：鑒別土壤/沉積物中重金屬的賦存礦物相（如PbSO?、CdCO?、As?O?），比單純元素檢測更能反映生物有效性。區分自然來源與人為污染（如方鉛礦（PbS）vs. 鉛鉻黃（PbCrO?，工業顏料））。典型案例：鋅冶煉廠周邊土壤中鋅的形態鑒定（ZnO、ZnS、ZnFe?O?）決定修復策略選擇。...

小型臺式多晶XRD衍射儀在殘余應力測量方面的行業應用雖受限于其精度和穿透深度，但在多個領域仍能發揮重要作用，尤其適合快速篩查、質量控制和小型樣品分析。 制造業（金屬加工與機械部件）應用場景：焊接殘余應力 增材制造（3D打印）應用場景：金屬/陶瓷打印件的層間應力分析，優化打印參數（如激光功率、掃描速度）。檢測支撐結構去除后的殘余應力集中區域。挑戰：多孔或粗糙表面需拋光，可能引入額外應力。各向異性材料需多方向測量。案例：鈦合金（Ti-6Al-4V）打印件的應力分布與后熱處理工藝關聯性研究。 評估追溯文物原料產地。桌面型智能型X射線衍射儀應用于化學化工催化劑活性組分晶相分析 小型臺...

X射線衍射在食品與農業中的應用：添加劑安全與土壤改良分析 農業土壤改良研究（1）改良劑作用機理酸性土壤調理：追蹤石灰（CaCO?）→石膏（CaSO?）的相變過程（pH調節動態）檢測羥基磷灰石（Ca??(PO?)?(OH)?）對Cd2?的晶格固定效應鹽堿地治理：腐殖酸-石膏復合體的層間距變化（d值從15.4?→12.8?）（2）新型改良劑開發生物炭材料：石墨微晶（002）峰半高寬反映熱解溫度（400℃ vs 700℃工藝優化）負載納米羥基磷灰石的分散性評估礦物-微生物復合體：蒙脫石（15?）-芽孢桿菌相互作用層間擴展現象（3）肥料增效技術控釋肥料包膜：檢測硫包衣尿素中α-S?向β-S?...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在超導材料精細結構分析中的應用雖面臨挑戰（如弱信號、復雜相組成），但通過針對性優化，仍可為其合成、相純度和結構演化研究提供關鍵數據支持。 鐵基超導體（如1111型、122型）關鍵問題：層間堆垛有序性：如SmFeAsO??xFx中As-Fe-As鍵角與Tc關系。摻雜效應：F?或Co2?取代對晶格的影響。臺式XRD方案：Rietveld精修：精修晶胞參數與原子占位度（需高信噪比數據）。低溫附件：研究超導轉變附近的結構畸變（如10-100 K）。挑戰：弱超晶格峰（如Fe空位有序）可能被噪聲掩蓋。 現場分析鉆探巖芯的黏土礦物比例。桌面型衍射儀應用于石油勘探沉...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在復雜材料精細結構分析中的應用雖然受限于其分辨率和光源強度，但通過優化實驗設計和數據處理，仍可在多個行業發揮重要作用。 新能源材料（鋰電/燃料電池）分析目標：電極材料（如NCM三元材料）的層狀結構演變與循環穩定性關聯。固態電解質（如LLZO）的立方/四方相比例對離子電導率的影響。挑戰：弱衍射信號（納米晶或低結晶度材料）。充放電過程中的動態相變監測。解決方案：原位電池附件：實時監測充放電過程中的結構變化（如LiFePO?兩相反應）。全譜擬合（Rietveld精修）：區分相似結構相（如LiNiO?與LiNi?.?Co?.??Al?.??O?）。案例：通過...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在超導材料精細結構分析中的應用雖面臨挑戰（如弱信號、復雜相組成），但通過針對性優化，仍可為其合成、相純度和結構演化研究提供關鍵數據支持。 銅氧化物高溫超導材料（如YBCO、BSCCO）關鍵問題：氧含量控制：YBa?Cu?O?-δ中δ值通過晶格參數（如c軸長度）反映。相純度：區分超導相（正交相）與非超導四方相。臺式XRD方案：高角度區掃描：聚焦于（00l）衍射峰（如005峰）精確測定c軸參數。原位退火附件：監測氧摻雜/脫附過程中的結構演變（需氣氛控制）。案例：通過c軸變化反推δ值：c ≈ 11.68 ?（δ=0） → 11.80 ?（δ=0.5）。 分...

X射線衍射儀在地質與礦物學中的應用：巖石、土壤及礦產資源的鑒定X射線衍射（XRD）是地質與礦物學研究中的**分析技術，能夠快速、準確地鑒定巖石、土壤及礦產資源中的礦物組成、晶體結構及相變行為。 變質巖與成巖作用研究變質相鑒定：通過特征礦物（如藍晶石、矽線石、紅柱石）判斷變質程度。成巖過程分析：監測礦物相變（如文石→方解石），推斷地質歷史。示例：榴輝巖中的綠輝石+石榴石組合指示高壓變質環境。 行星地質與隕石分析鑒定隕石中的礦物（如橄欖石、輝石、鈣長石），推測母天體演化歷史。火星探測：NASA“好奇號”搭載XRD，直接分析火星土壤礦物（如蒙脫石、赤鐵礦）。 電子與半導體工業薄膜厚度...

電子元件的薄膜厚度直接影響其電氣性能和使用壽命。傳統的薄膜厚度檢測方法往往存在操作復雜、測量精度不高等問題。粉末多晶衍射儀的出現為電子元件薄膜厚度檢測帶來了新的突破。它能夠快速、準確地測量電子元件薄膜的厚度，幫助工程師及時發現薄膜厚度的微小變化，從而采取相應的措施進行調整和優化。與傳統檢測方式相比，粉末多晶衍射儀的檢測過程更加簡便、高效，且不會對電子元件造成任何損傷。贏洲科技的粉末多晶衍射儀，以其先進的技術和質量的服務，為電子元件制造企業提供了一種可靠的薄膜厚度檢測手段，有助于提升電子元件的可靠性和市場競爭力。汽車涂層結晶度質量檢測。小型臺式多晶X射線衍射儀哪家好在頁巖氣勘探領域，操作便捷性是...

X射線衍射儀在地質與礦物學中的應用：巖石、土壤及礦產資源的鑒定X射線衍射（XRD）是地質與礦物學研究中的**分析技術，能夠快速、準確地鑒定巖石、土壤及礦產資源中的礦物組成、晶體結構及相變行為。XRD技術具有非破壞性、高精度和廣譜適用性等特點，廣泛應用于礦產資源勘探、環境地質、工程地質及行星科學等領域。 礦產資源勘探與選礦礦石物相分析：區分有用礦物（如銅礦中的黃銅礦CuFeS? vs. 輝銅礦Cu?S）。檢測伴生礦物（如金礦中的毒砂FeAsS），優化選礦工藝。尾礦與廢渣利用：分析尾礦中的殘留礦物（如稀土礦物），評估資源回收潛力。示例：XRD可快速篩選磷礦中的氟磷灰石（Ca?(PO?)?...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在刑事偵查物證分析中具有獨特優勢，能夠快速、無損地提供物證的晶體結構信息，為案件偵破提供關鍵科學依據。 物殘留分析檢測目標：無機**：KNO?（**）、NH?NO?（硝酸銨**）有機**：RDX（1,3,5-三硝基-1,3,5-三氮雜環己烷）技術方案：原位檢測：現場塵土直接壓片分析混合物解析：全譜擬合定量各組分（如**中S/KNO?/C比例）特征數據：RDX主峰：13.6°、17.2°、28.9°NH?NO?多晶型鑒別（常溫相IV：23.1°、29.4°） 研究PM2.5中晶體組分。小型臺式XRD粉末衍射儀 小型臺式多晶XRD衍射儀在殘余應力測量方...

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）因其便攜性、快速分析和低維護成本等特點，在地球化學領域具有廣泛的應用潛力。 環境地球化學研究應用：污染評估：檢測土壤或沉積物中的重金屬賦存礦物（如方鉛礦、閃鋅礦）或次生相（如鉛礬）。礦山尾礦：分析尾礦中殘留礦物及風化產物，評估酸性排水風險。優勢：快速篩查污染物來源及遷移轉化機制。 成巖與變質作用研究應用：通過礦物相變（如文石→方解石、高嶺石→葉蠟石）推斷溫壓條件，適用于低級變質或成巖作用研究。局限性：小型XRD分辨率可能限制對微量相或復雜重疊峰的解析，需結合其他手段（如SEM-EDS）。 教學與科普優勢：臺式設備操作簡單，適合高校或科研機...