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固有頻率還分為水平方向和豎直方向，但通常來說豎直方向的固有頻率對整體隔振性能的影響，起到?jīng)Q定性作用，水平方向的固有頻率指標(biāo)通常用于參考。振動(dòng)恢復(fù)時(shí)間（Damping Settling Time）:也叫衰減周期，是指：某一點(diǎn)上開始振動(dòng)到恢復(fù)到初始狀態(tài)所需要的很短...

晶圓測試是在半導(dǎo)體器件制造過程中執(zhí)行的一個(gè)步驟。在此步驟中，在將晶圓送至芯片準(zhǔn)備之前執(zhí)行，晶圓上存在的所有單個(gè)集成電路都通過對其應(yīng)用特殊測試模式來測試功能缺陷。晶圓測試由稱為晶圓探針器的測試設(shè)備執(zhí)行。晶圓測試過程可以通過多種方式進(jìn)行引用：晶圓終端測試(WFT)...

頂燈安裝方法考慮變化問題,套車燈照明總成就可以,一定要記得記線線盒一定要選擇穩(wěn)固的,紅色也就是有固定螺絲接口的,如果安裝不到位,可能導(dǎo)致手伸進(jìn)去受力不均勻,安裝不上的情況,尤其小長輩們看到十寸偏光鏡沒有固定的兩端螺絲,一定不要選擇帶了偏光鏡固定螺絲的。小編的意...

對于當(dāng)今的多芯片（multi-die packages）封裝，例如堆疊芯片級封裝(SCSP)或系統(tǒng)級封裝(SiP)–開發(fā)用于識別已知測試芯片(KTD)和已知良好芯片(KGD)的非接觸式(RF)探針對提高整體系統(tǒng)產(chǎn)量至關(guān)重要。晶圓探針臺還可以在晶圓劃片線上執(zhí)行任...

光學(xué)平臺平面度，對于隔振性能，沒有任何影響，甚至若為了追求高平面度，往往會去除掉光學(xué)平臺的隔振性能，原因如下：我們知道，光學(xué)平臺臺面，若為達(dá)到高平面度，通常需要反復(fù)磨削，在加工過程中，多次磨削容易使材料產(chǎn)生形變，為了減少形變，通常要加厚臺面，但我們通過振動(dòng)恢復(fù)...

手動(dòng)探針臺的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺將樣品待測試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。4.顯微鏡...

對于平臺上的光學(xué)元件來說，平面度引起的高度差，通常可以忽略不計(jì)，若確有必要考慮高度差，則完全可以通過勤確精密調(diào)整的位移臺來實(shí)現(xiàn)。綜上所述，光學(xué)平臺的平面度，同光學(xué)平臺的隔振性能不相關(guān)，只能做為光學(xué)平臺的一個(gè)輔助指標(biāo)，供參考。振動(dòng)物體離開平衡位置的距離叫振動(dòng)的振...

探針臺大家不陌生了，是我們半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室電性能測試的常用設(shè)備，也是各大實(shí)驗(yàn)室的熟客。優(yōu)點(diǎn)太多了，成本低，用途廣，操作方便，對環(huán)境要求也不高，即使沒有超凈間，普通的壞境也可以配置，測試結(jié)果穩(wěn)定，客觀。深受工程師們的青睞。手動(dòng)探針臺用途：探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、...

探針臺由于動(dòng)子和定子間無相對摩擦故無磨損，使用壽命長。而定子在加工過程中生產(chǎn)廠家根據(jù)不同的設(shè)計(jì)要求如分辨力等，用機(jī)加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個(gè)線槽，線槽間的距離即稱為平面電機(jī)的齒距，而定子則按不同的細(xì)分控制方式，按編制好的運(yùn)行程序借助于平面定子和...

平臺面板具有優(yōu)良的潔凈性能，上、下面板均采用防銹的磁性不銹鋼，上面板與蜂窩芯粘接前后都進(jìn)行嚴(yán)格的潔凈清洗流程，保證面板螺孔和U型清潔艙無油污、碎屑?xì)埩簦琔型清潔艙能有效防止蜂窩芯板腐蝕，U型通道將相鄰兩個(gè)螺孔連通，便于制造時(shí)用高壓氣流和工作時(shí)用吸塵器清潔掉落在...

探針臺由哪些部分組成？樣品臺（載物臺）：是定位晶圓或芯片的部件設(shè)備。通常會根據(jù)晶圓的尺寸來設(shè)計(jì)大小，并配套了相應(yīng)的精密移動(dòng)定位功能。光學(xué)元件：這個(gè)部件的作用使得用戶能夠從視覺上放大觀察待測物，以便精確地將探針尖銳端對準(zhǔn)并放置在待測晶圓/芯片的測量點(diǎn)上。有的采用...

在精密光學(xué)平臺上對反射光的處理要在光路中檢測對象的反射角度,檢測不同光波波段光路中的反射率,用電學(xué)透鏡圖片來處理多光線路徑的不同光路,建立角度矩陣、波長矩陣、光源矩陣等,確定光路系統(tǒng)中不同光路的光學(xué)模型。雖然利用光路光學(xué)儀器可以對光路進(jìn)行單個(gè)或組合的光路模擬,...

對于當(dāng)今的多芯片（multi-die packages）封裝，例如堆疊芯片級封裝(SCSP)或系統(tǒng)級封裝(SiP)–開發(fā)用于識別已知測試芯片(KTD)和已知良好芯片(KGD)的非接觸式(RF)探針對提高整體系統(tǒng)產(chǎn)量至關(guān)重要。晶圓探針臺還可以在晶圓劃片線上執(zhí)行任...

隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對于精密微小(納米級)的微電子器件，表筆點(diǎn)到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生，利用高精度微探針將被測原件的內(nèi)部訊號引導(dǎo)出來，便于其電性測試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對此測試、分析。探針臺執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成...

手動(dòng)探針臺規(guī)格描述（以實(shí)驗(yàn)室常見的儀準(zhǔn)ADVANCED八寸，六寸探針臺為例）：探針臺載物臺平整度：5μm探針臺右側(cè)標(biāo)配顯微鏡升降機(jī)構(gòu)，可抬高顯微鏡，便于更換鏡頭和換待測物探針臺左側(cè)標(biāo)配升降器,可快速升降臺面8mm，并具備鎖定功能探針臺右下方標(biāo)配精調(diào)旋轉(zhuǎn)輪，可微...

光學(xué)平臺隔振系統(tǒng)的構(gòu)成：光學(xué)平臺由上下面板、蜂窩內(nèi)芯和U型清潔艙采用低溫恒溫粘接而成，溫度應(yīng)變小。鋼質(zhì)蜂窩內(nèi)芯采用垂向支撐桁架蜂窩結(jié)構(gòu)，U型清潔艙與蜂窩芯六邊形內(nèi)壁相配合內(nèi)嵌在蜂窩孔中，蜂窩孔六邊形板直接粘結(jié)到上面板，U型清潔艙用蜂窩夾層板頂著粘接在上面板，增...

光學(xué)平臺又稱光學(xué)桌面，供水平、穩(wěn)定的臺面，一般平臺都需要進(jìn)行隔振等措施，保證其不受外界因素干擾，使科學(xué)實(shí)驗(yàn)正常進(jìn)行。目前來說，有主動(dòng)與被動(dòng)兩大類。而被動(dòng)又有橡膠與氣浮兩大類。固體阻尼隔震光學(xué)平臺和自動(dòng)充氣平衡隔震光學(xué)平臺。光學(xué)平臺追求水平，首先加工的時(shí)候整個(gè)臺...

氣浮光學(xué)平臺的功能有哪些?它主要根據(jù)太陽或地球上大氣分子在地表受到太陽輻射時(shí)太陽光或地面通過大氣光學(xué)反射折射到人眼后,在固定時(shí)間段太陽出現(xiàn)在前面三十幾分鐘就光臨地球的大氣光學(xué)性質(zhì),設(shè)計(jì)制作出大氣光學(xué)氣浮系統(tǒng)。可根據(jù)太陽或地球上大氣分子產(chǎn)生大氣層厚度等條件,設(shè)計(jì)...

光學(xué)平臺的很大相對位移值，主要同平臺的結(jié)構(gòu)和材料剛性相關(guān)，在同樣測試條件，且光學(xué)平臺的結(jié)構(gòu)和材料相近的情況下，很大相對位移的值相差不大。勤確漢光的光學(xué)平臺臺面，采用三層夾心結(jié)構(gòu)，上臺面厚度4～6mm，采用鐵磁不銹鋼材質(zhì)，此時(shí)測試的很大相對位移，在10-7mm量...

手動(dòng)探針臺應(yīng)用領(lǐng)域：Failure analysis集成電路失效分析；Wafer level reliability晶元可靠性認(rèn)證；Device characterization元器件特性量測；Process modeling塑性過程測試(材料特性分析)；IC...

振動(dòng)恢復(fù)時(shí)間是某一點(diǎn)上開始振動(dòng)到恢復(fù)到初始狀態(tài)所需要的很短時(shí)間。若要縮短光學(xué)平臺的振動(dòng)恢復(fù)時(shí)間，通常有兩個(gè)辦法：增大彈簧的彈性系數(shù)k。對于阻尼隔振平臺，可以換用材質(zhì)較硬的阻尼材料；對于充氣平臺，可以適度增加空氣壓力；控制光學(xué)平臺臺面的質(zhì)量。在不影響剛度的前提下...

光學(xué)平臺很主要的一個(gè)目標(biāo)是消除平臺上任意兩個(gè)以上部件之間的相對位移。大多數(shù)光學(xué)實(shí)驗(yàn)都對系統(tǒng)穩(wěn)定性有較高的要求。各種因素造成的振動(dòng)會導(dǎo)致儀器測量結(jié)果的不穩(wěn)定性和不準(zhǔn)確性，所以光學(xué)平臺顯得十分重要。光學(xué)平臺隔振原理：振動(dòng)來源主要分為來自系統(tǒng)之外的振動(dòng)和系統(tǒng)內(nèi)部的振...

滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺的維護(hù)與保養(yǎng)：由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力矩小，使用壽命長等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺應(yīng)放置在溫度23±3℃，濕度≤70％，無有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油，但不可過多，值得指...

晶圓探針器是用于測試集成電路的機(jī)器（自動(dòng)測試設(shè)備）。對于電氣測試，一組稱為探針卡的微觀觸點(diǎn)或探針被固定在適當(dāng)?shù)奈恢茫瑫r(shí)真空安裝在晶圓卡盤上的晶圓被移動(dòng)到電接觸狀態(tài)。當(dāng)一個(gè)管芯（或管芯陣列）經(jīng)過電氣測試后，探針臺將晶片移動(dòng)到下一個(gè)管芯（或管芯），下一個(gè)測試就可...

自動(dòng)化加工過程:自動(dòng)化加工系統(tǒng)平臺和面包板的特殊之處是采用自動(dòng)軌道機(jī)械啞光表面加工，比老舊的平臺產(chǎn)品更加平滑、平整。這些平臺經(jīng)過改善的表面拋光處理后，表面平整度在1平方米（11平方英尺）內(nèi)可達(dá)±0.1毫米（±0.004英寸），為安裝部件提供了接觸表面，不需要使...

平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺：平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開，定子是基礎(chǔ)平臺，動(dòng)子和定子間有一層氣墊，動(dòng)子浮于氣墊上，而可編程承片臺則安裝在動(dòng)子之上。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺，由于動(dòng)子和定子間無相對摩擦故無磨損，使用壽命長。而...

晶圓測試是在半導(dǎo)體器件制造過程中執(zhí)行的一個(gè)步驟。在此步驟中，在將晶圓送至芯片準(zhǔn)備之前執(zhí)行，晶圓上存在的所有單個(gè)集成電路都通過對其應(yīng)用特殊測試模式來測試功能缺陷。晶圓測試由稱為晶圓探針器的測試設(shè)備執(zhí)行。晶圓測試過程可以通過多種方式進(jìn)行引用：晶圓終端測試(WFT)...

對于平臺上的光學(xué)元件來說，平面度引起的高度差，通?？梢院雎圆挥?jì)，若確有必要考慮高度差，則完全可以通過勤確精密調(diào)整的位移臺來實(shí)現(xiàn)。綜上所述，光學(xué)平臺的平面度，同光學(xué)平臺的隔振性能不相關(guān)，只能做為光學(xué)平臺的一個(gè)輔助指標(biāo)，供參考。振動(dòng)物體離開平衡位置的距離叫振動(dòng)的振...

光學(xué)平臺很主要的一個(gè)目標(biāo)是消除平臺上任意兩個(gè)以上部件之間的相對位移。大多數(shù)光學(xué)實(shí)驗(yàn)都對系統(tǒng)穩(wěn)定性有較高的要求。各種因素造成的振動(dòng)會導(dǎo)致儀器測量結(jié)果的不穩(wěn)定性和不準(zhǔn)確性，所以光學(xué)平臺顯得十分重要。光學(xué)平臺隔振原理：振動(dòng)來源主要分為來自系統(tǒng)之外的振動(dòng)和系統(tǒng)內(nèi)部的振...

密封平臺顯微鏡設(shè)備用戶應(yīng)采取接觸固定的方法并予以充分的保護(hù),要確保加工面與玻璃的接觸面積大于5mm，而不應(yīng)是所有光學(xué)平臺顯微鏡本身就不能再進(jìn)行其他的玻璃保護(hù)處理。用戶一方面要保護(hù)好產(chǎn)品,一方面要保證安全拿人開刀才是很危險(xiǎn)的事小尺寸全硬板狀的平板顯微鏡工作時(shí)應(yīng)該...