半導體制造對溫度精度要求極高，思捷光電提供覆蓋晶圓加工、薄膜沉積、長晶等環節的精密測溫方案。晶圓加工階段，蝕刻與沉積溫度需控制在±1℃以內，EX-SMART系列光纖雙色儀（350℃~3300℃）以1ms響應捕捉溫度細微變化，三模式測溫對比分析數據，抗電磁干擾設計適配光刻機等設備。第三代半導體長晶爐測溫選用STRONG-SR系列雙色儀（700℃~3200℃），準確監測爐內溫度，形成工藝曲線，保障晶體質量；薄膜沉積環節，MARS-G系列（300℃~2500℃）監測沉積溫度，確保薄膜厚度均勻。設備支持以太網通訊，與半導體自動化系統聯動，實現溫度閉環控制，提升產品良率。全量程溫度補償技術，消除環境溫度對測量的影響。遼陽比色高溫計選型指南

思捷光電EX-SMART 系列的光纖雙色紅外測溫儀，測溫范圍 350℃~3300℃，精度 ±0.3% T℃+2℃，是超高溫場景的優先選擇。支持雙色、單色寬 / 窄波段三模式測溫，相當于三臺設備協同工作。響應快至 1ms，曝光 0.5ms，可捕捉瞬時溫度，搭配軟件記錄雙色值、信號強度等數據。光纖傳導隔離電磁干擾，鏡頭可選調焦 / 定焦，距離系數 200:1，光斑只有1.5mm。帶水冷耐受 - 20℃~+200℃，鏡頭及光纖耐 250℃，適配激光加熱、等離子體實驗等超高溫科研與工業場景。遼陽比色高溫計選型指南有色金屬（鋁、銅、鋅）加工測溫推薦 STRONG-GR 系列，適配低發射率材料。

在半導體長晶爐與單 / 多晶硅鑄錠爐中，溫度均勻性與穩定性直接影響晶體質量。MARS-F 系列光纖單色紅外測溫儀（如 MARS-FG-3530，350℃~3000℃）通過耐高溫光纖傳導光學信號，抗電磁干擾能力強，避免爐體電磁輻射對測溫的影響。調焦鏡頭可準確定位晶體生長區域，5ms 響應時間及時反饋溫度變化，配合 OLED 顯示屏與 RS485 通訊，實現溫度數據實時傳輸與監控，助力企業優化長晶工藝，提升晶體成品率。此外，思捷測溫儀的 PID 恒溫控制與全量程溫度補償技術，進一步確保在真空爐復雜環境下的長期穩定測溫。

思捷光電建立全生命周期售后服務體系，用戶可通過熱線、郵箱、官網等多渠道咨詢技術問題，專業團隊快速解答安裝、故障排查等疑問。保修期內免費維修非人為損壞故障，保修期外提供透明收費維修服務。定期回訪用戶，記錄設備運行狀態，提醒維護保養，為批量采購用戶提供定制化培訓與上門維護，解決后顧之憂。思捷光電以創新驅動產品迭代，推出多項行業超前技術。EX-SMART 系列的三模式測溫（雙色、單色寬 / 窄波段），相當于 3 臺設備集成；STRONG 系列視頻瞄準與測溫一體化，實現可視化操作。探測器 PID 恒溫控制、全量程溫度補償等共性技術，解決傳統設備精度漂移問題。持續的研發投入與產學研合作，讓思捷不斷突破技術瓶頸，引導紅外測溫行業發展。玻璃窯測溫，紅外測溫儀適應高溫高粉塵的工作條件。

選購紅外測溫儀需遵循“場景分析→參數匹配→功能篩選”流程，思捷光電豐富的產品線可滿足多元需求。首先明確測溫范圍，如高溫金屬選600~3000℃機型（STRONG-SR），中低溫塑料選150~1200℃機型（MARS-EXG）。其次確定距離系數，根據安裝距離與目標大小計算，如10米測50mm目標需200:1機型。環境條件是關鍵考量：高污染、小目標選雙色機型（STRONG），強電磁干擾選光纖機型（EX-SMART、MARS-F），潔凈穩定場景選單色機型（MARS）。可以關注功能需求，如自動化對接需RS485/以太網接口，遠程監控需視頻瞄準功能。通過準確匹配參數與場景，可發揮設備價值，降低使用成本。0.85-1.1μm 波長，適配玻璃與半導體測溫。伊春雙色紅外高溫計售后服務

思捷測溫儀對探測器采用 PID 恒溫控制，自帶全量程溫度補償。遼陽比色高溫計選型指南

思捷 STRONG-SR 系列雙色紅外測溫儀，專為冶金高溫多塵工況設計，測溫范圍 600℃~3200℃，適配熱軋、鍛造等環節。搭載 Si/Si 疊層硅探測器，精度 ±0.5% T，分辨率 0.1℃，重復精度 ±2℃。優勢是雙色技術，信號衰減 95% 仍不影響精度，抗灰塵、水汽干擾。距離系數可達200:1，調焦靈活，響應快至 5ms，可捕捉瞬時溫度。PID 恒溫控制抵消環境影響，OLED 界面操作便捷，支持 LED、目鏡、視頻三種瞄準方式。支持 RS485 通訊與多路模擬量輸出，能對接控制系統，助力冶金企業實現自動化溫控，提升產品品質與生產效率。遼陽比色高溫計選型指南