工程測(cè)量：用于高精度的長(zhǎng)度測(cè)量和地形測(cè)量。波譜分析：用于分析光譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)和超精細(xì)結(jié)構(gòu)。量子物理實(shí)驗(yàn)：用于研究量子光學(xué)、原子物理學(xué)等領(lǐng)域的物理現(xiàn)象。五、發(fā)展歷史與現(xiàn)狀19世紀(jì)的波動(dòng)論者認(rèn)為光波或電磁波必須在彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太。人們做了一系列實(shí)驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證以太的存在并探求其屬性，以干涉原理為基礎(chǔ)的實(shí)驗(yàn)**為精確，其中**有名的是菲佐實(shí)驗(yàn)和邁克耳孫-莫雷實(shí)驗(yàn)。隨著激光器的發(fā)展，干涉儀開(kāi)始使用激光作為光源，提高了測(cè)量的精度和穩(wěn)定性。到了20世紀(jì)70年代以后，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，將激光干涉儀和電子計(jì)算機(jī)綜合起來(lái)的許多新的干涉儀，可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)量。目前，干涉儀已經(jīng)成為一種重要的精密測(cè)量工具，在各個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。激光發(fā)射：激光器發(fā)出單色光束。工業(yè)園區(qū)耐用雙頻激光干涉儀性價(jià)比

折射率測(cè)定兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化也可導(dǎo)致光程差的改變，從而引起條紋移動(dòng)。瑞利干涉儀就是通過(guò)條紋移動(dòng)來(lái)對(duì)折射率進(jìn)行相對(duì)測(cè)量的典型干涉儀。應(yīng)用于風(fēng)洞的馬赫-秦特干涉儀被用來(lái)對(duì)氣流折射率的變化進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。波長(zhǎng)的測(cè)量任何一個(gè)以波長(zhǎng)為單位測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)米尺的方法也就是以標(biāo)準(zhǔn)米尺為單位來(lái)測(cè)量波長(zhǎng)的方法。以國(guó)際米為標(biāo)準(zhǔn)，利用干涉儀可精確測(cè)定光波波長(zhǎng)。法布里-珀**涉儀（標(biāo)準(zhǔn)具）曾被用來(lái)確定波長(zhǎng)的初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)（鎘紅譜線波長(zhǎng)）和幾個(gè)次級(jí)波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)，從而通過(guò)比較法確定其他光譜線的波長(zhǎng)。蘇州直銷雙頻激光干涉儀單價(jià)激光器產(chǎn)生兩束頻率相近的激光（如利用塞曼效應(yīng)或聲光調(diào)制），頻率分別為f1和f2。

激光干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻激光干涉儀從激光器發(fā)出的光束，經(jīng)擴(kuò)束準(zhǔn)直后由分光鏡分為兩路，并分別從固定反射鏡和可動(dòng)反射鏡反射回來(lái)會(huì)合在分光鏡上而產(chǎn)生干涉條紋。當(dāng)可動(dòng)反射鏡移動(dòng)時(shí)，干涉條紋的光強(qiáng)變化由接受器中的光電轉(zhuǎn)換元件和電子線路等轉(zhuǎn)換為電脈沖信號(hào)，經(jīng)整形、放大后輸入可逆計(jì)數(shù)器計(jì)算出總脈沖數(shù)，再由電子計(jì)算機(jī)按計(jì)算式[356-11]式中λ為 激光波長(zhǎng)(N 為電脈沖總數(shù))，算出可動(dòng)反射鏡的位移量L。使用單頻激光干涉儀時(shí)，要求周?chē)髿馓幱诜€(wěn)定狀態(tài)，各種空氣湍流都會(huì)引起直流電平變化而影響測(cè)量結(jié)果。

分類激光干涉儀主要分為單頻激光干涉儀和雙頻激光干涉儀兩種：?jiǎn)晤l激光干涉儀：在20世紀(jì)60年代中期出現(xiàn)，**初用于檢定基準(zhǔn)線紋尺，后用于在計(jì)量室中精密測(cè)長(zhǎng)。它對(duì)環(huán)境要求較高，周?chē)髿庑杼幱诜€(wěn)定狀態(tài)，以避免空氣湍流對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。雙頻激光干涉儀：出現(xiàn)于1970年，適宜在車(chē)間中使用。它應(yīng)用頻率變化來(lái)測(cè)量位移，對(duì)由光強(qiáng)變化引起的直流電平變化不敏感，因此抗干擾能力強(qiáng)。雙頻激光干涉儀常用于檢定測(cè)長(zhǎng)機(jī)、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、光刻機(jī)和加工中心等的坐標(biāo)精度，也可用作測(cè)長(zhǎng)機(jī)、高精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等的測(cè)量系統(tǒng)。三、應(yīng)用實(shí)時(shí)測(cè)量：可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和數(shù)據(jù)采集，適合動(dòng)態(tài)測(cè)量。

非接觸式測(cè)量：激光干涉儀可以不接觸物體表面就測(cè)量其形狀，這對(duì)于測(cè)量易碎或精細(xì)的物體非常有用。多功能性：激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來(lái)作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測(cè)量工作。抗干擾能力強(qiáng)：雙頻激光干涉儀對(duì)由光強(qiáng)變化引起的直流電平變化不敏感，因此抗干擾能力強(qiáng)。五、注意事項(xiàng)與維護(hù)注意事項(xiàng)：儀器應(yīng)放置在干燥、清潔以及無(wú)振動(dòng)的環(huán)境中應(yīng)用。在移動(dòng)儀器時(shí)，應(yīng)托住底座以防止導(dǎo)軌變形。光學(xué)零件在不用時(shí)，應(yīng)在清潔干燥的器皿中進(jìn)行存放以防止發(fā)霉。它通常用于高精度的位移、振動(dòng)、形變等物理量的測(cè)量。蘇州直銷雙頻激光干涉儀單價(jià)

干涉儀的應(yīng)用包括測(cè)量微小位移、折射率、波長(zhǎng)、材料的光學(xué)特性等。工業(yè)園區(qū)耐用雙頻激光干涉儀性價(jià)比

檢驗(yàn)光學(xué)元件泰曼干涉儀被普遍用來(lái)檢驗(yàn)平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個(gè)光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評(píng)估透鏡的波像差。引力波測(cè)量干涉儀也可以用于引力波探測(cè)(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測(cè)器的概念是前蘇聯(lián)科學(xué)家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962） [5]。 1969年美國(guó)科學(xué)家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實(shí)驗(yàn)室建造初步的試驗(yàn)系統(tǒng)（Weiss 1972） [6]工業(yè)園區(qū)耐用雙頻激光干涉儀性價(jià)比

蘇州貝格納工業(yè)設(shè)備有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度，多年以來(lái)致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在江蘇省等地區(qū)的機(jī)械及行業(yè)設(shè)備中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績(jī)讓我們喜悅，但不會(huì)讓我們止步，殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營(yíng)養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開(kāi)拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無(wú)限潛力，貝格納供應(yīng)攜手大家一起走向共同輝煌的未來(lái)，回首過(guò)去，我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績(jī)而沾沾自喜，相反的是面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越激烈的市場(chǎng)氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來(lái)！