自動化測試模組（AutomatedTestModule,ATM）是由硬件平臺、測試軟件、信號接口及數據分析系統構成的集成化測試解決方案。其關鍵硬件包括：測試控制器：通常采用PXIe或LXI架構，搭載多核處理器（如IntelXeon），支持實時操作系統（RTOS）以確保時序精度（±1μs）。信號發生與采集單元：高精度AWG（任意波形發生器）和DAQ（數據采集卡），如KeysightM9703A支持16位分辨率、1GS/s采樣率，滿足5GNR信號的毫米波測試需求。DUT接口：彈簧針（PogoPin）或射頻同軸連接器（SMA3.5mm），接觸阻抗<10mΩ，壽命>50萬次插拔。軟件層面基于LabVIEW或Python開發測試序列，集成SCPI指令集控制儀器，并通過MES系統實現測試數據追溯。例如，特斯拉電池模組測試線采用NIPXI平臺，單站測試周期縮短至12秒，誤測率<0.01%。智能家電的自動化測試模組，可模擬用戶操作習慣進行長期耐久性測試。廣州自動化測試模組技術

多參數同步采集技術實現對復雜待測件的全面性能評估，其關鍵是基于時間戳的同步觸發機制。模組內各采集通道（如電壓、電流、溫度）通過高精度時鐘芯片（誤差小于 1ppm）校準，確保數據采集時間偏差小于 10μs。例如在電機驅動板測試中，可同步采集三相電流（采樣率 1MHz）、IGBT 溫度（采樣率 1kHz）及 PWM 控制信號，通過時序關聯分析，精細定位過流保護響應延遲等問題。該技術配合高速數據總線（如 PCIe），單模組可實現 32 通道并行采集，數據傳輸速率達 1GB/s，滿足新能源汽車控制器等復雜產品的測試需求。廣州自動化測試模組技術采用容器化部署的自動化測試模組，便于在不同測試環境間快速遷移復用。

水下無人潛航器（AUV）、有人潛水器等設備為人類開拓海洋深部探測、資源勘探的新空間立下了汗馬功勞，然而其電子設備需應對深海高壓、低溫、黑暗且強腐蝕性的極端環境。東莞市虎山電子有限公司的自動化測試模組勇探“深海秘境”，為水下電子設備的可靠性保駕護航。針對AUV的導航定位系統，模組在高壓艙內模擬千米深海的壓強，對慣性導航、聲學定位的精度進行測試，同時校驗電池管理系統在低溫下的充放電穩定性以及續航能力。確保AUV在深海復雜環境中能夠準確地確定自身位置，順利完成探測任務。對于潛水器的照明、攝像系統，檢測其在高壓、強腐蝕環境下的工作穩定性，以及圖像傳輸的清晰度，為科研人員提供清晰、可靠的水下影像資料，助力海洋科學研究與資源勘探工作的順利開展。

東莞市虎山電子有限公司在推出自動化測試模組后，積極與各大科研機構、高校展開合作。通過產學研合作模式，不斷將前沿科研成果應用于模組的升級優化中。與高校合作開展的人工智能在測試數據分析中的應用研究，使得模組能夠更快速、準確地對海量測試數據進行分析，挖掘潛在的產品質量問題。與科研機構合作研發的新型傳感器技術，進一步提升了模組的測試精度與功能多樣性。通過這些合作，推動了整個電子測試行業的技術進步。展望未來，隨著科技的不斷進步，電子產品將朝著更加智能化、小型化、集成化方向發展，對自動化測試模組的要求也將越來越高。東莞市虎山電子有限公司將持續加大研發投入，不斷優化現有產品，提升模組的性能與功能。在技術創新方面，積極探索引入新興技術，如量子計算技術在測試算法優化中的應用，進一步提高測試效率與精度。同時，不斷拓展市場，加強與國內外企業的合作，車規級自動化測試模組需模擬 - 40℃至 85℃環境，測試芯片工作穩定性。

在量子通信基站搭建、量子計算設備研制這一前沿科技賽道上，自動化測試模組肩負著守護“量子態”精密運行的重任。東莞市虎山電子有限公司敢為人先，在這一領域積極探索并取得了 成果。在量子通信基站測試方面，其模組聚焦光子糾纏態制備、傳輸與檢測環節，運用超精密單光子探測器、量子態分析儀等先進設備，模擬光纖衰減、環境噪聲干擾等實際傳輸過程中可能遇到的問題，對量子密鑰分發的安全性、通信速率的穩定性進行嚴格校驗。確保量子通信的信息傳輸安全可靠，為未來高速、安全的通信網絡奠定基礎。在量子計算設備測試方面，針對超導量子比特、離子阱量子比特操控系統，檢測微波脈沖控制精度、量子比特相干時間、糾錯碼效能等關鍵性能指標。助力科研人員攻克量子計算技術難題，推動量子計算設備的實用化進程，為我國在量子科技領域的發展貢獻力量。自動化測試模組能助力企業快速將產品推向市場，同時保證產品質量，提升消費者滿意度與企業競爭力。自動化測試模組技術

針對物聯網設備，自動化測試模組可模擬復雜網絡環境下的連接穩定性測試。廣州自動化測試模組技術

精細定位與對接技術是自動化測試模組的關鍵，直接影響測試準確性。該技術依賴視覺定位系統與精密傳動機構：視覺系統采用 CCD 相機（分辨率達 2000 萬像素）配合圖像處理算法，識別待測件的基準標記，定位精度達 ±0.01mm；傳動機構多采用伺服電機驅動滾珠絲杠，重復定位誤差小于 0.005mm。在半導體芯片測試中，探針模組需與芯片引腳實現微米級對接，通過視覺反饋實時調整探針位置，確保接觸電阻小于 50mΩ，避免因接觸不良導致測試誤判。此項技術使模組能適應不同批次產品的微小尺寸偏差，提升測試兼容性。廣州自動化測試模組技術