PCIe4.0標準在時鐘架構上除了支持傳統的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式,以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下,主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發端的時鐘偏差,同時由于有一部分數據線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消,所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些在PCI-E的信號質量測試中需要捕獲多少的數據進行分析?黑龍江測量PCI-E測試

這個軟件以圖形化的界面指導用戶完 成設置、連接和測試過程,除了可以自動進行示波器測量參數設置以及生成報告外,還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項目,提高了測試的效率和覆蓋率。自動測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法,從而可以保證分析結果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動測試軟件的設置界面。
主板和插卡的測試項目針對的是系統設備廠商,需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試,遵循的是CEM的規范。而對于設計PCIe芯片的廠商來說,其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規范,并且需要自己設計針對芯片的測試板。16是一個典型的PCIe 芯片的測試板,測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸,對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內。為了測試中可以對扇出通道的影響進行評估或者去嵌入,測試板上還應 設計和扇出通道疊層設計、布線方式盡量一致的復制通道(Replica Channel),復制通道和扇 出通道的區別是兩端都設計成同軸連接方式,這樣可以通過對復制通道直接進行測試 推測扇出通道的特性。 黑龍江測量PCI-E測試PCI-E測試信號質量測試;

簡單總結一下,PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術上的相同點和不同點有:(1)PCIe4.0的數據速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率;(2)都采用128b/130b數據編碼方式;(3)發送端都采用3階預加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡;(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸,多1個連接器,更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應對鏈路損耗以及不同鏈路的情況,新開發的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都需要支持動態鏈路協商功能;
關于各測試項目的具體描述如下:·項目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗證插卡發送信號質量,針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率。·項目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗證插卡發送信號中的脈沖寬度抖動,針對16Gbps速率。·項目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗證插卡發送信號的Preset值是否正確,針對8Gbps和16Gbps速率。·項目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:驗證插卡能根據鏈路命令設置成正確的初始Prest值,針對8Gbps和16Gbps速率。·項目2.5Add-inCardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗證插卡對于鏈路協商的響應時間,針對8Gbps和16Gbps速率。PCI-E4.0的發射機質量測試?

相應地,在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中,也會要求測試軟件能夠很好地模擬發送端和接收端抖動傳遞函數的影響。而 在IR模式下,主板和插卡可以采用不同的參考時鐘,可以為一些特殊的不太方便進行參考 時鐘傳遞的應用場景(比如通過Cable連接時)提供便利,但由于收發端參考時鐘不同源,所 以對于收發端的設計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調整機制)。IR模式下 用戶可以根據需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡,保證*終的發射機 抖動指標即可。圖4.9是PCIe4.0規范參考時鐘時的時鐘架構,以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區別是什么?黑龍江測量PCI-E測試
網絡分析儀測試PCIe gen4和gen5,sdd21怎么去除夾具的值?黑龍江測量PCI-E測試
在測試通道數方面,傳統上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法,即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道,所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現連接,但是由于會引入額外的噪聲,所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優點是可以比較方便地計算數據通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中,對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法,即只把被測數據通道接入 示波器測試,這樣信號質量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質量測試組網圖,芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG黑龍江測量PCI-E測試