是用矢量網絡分析儀進行鏈路標定的典型連接，具體的標定步驟非常多，在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細描述，這里不做展開。

在硬件連接完成、測試碼型切換正確后，就可以對信號進行捕獲和信號質量分析。正式 的信號質量分析之前還需要注意的是：為了把傳輸通道對信號的惡化以及均衡器對信號的 改善效果都考慮進去，PCIe3.0及之后標準的測試中對其發送端眼圖、抖動等測試的參考點 從發送端轉移到了接收端。也就是說，測試中需要把傳輸通道對信號的惡化的影響以及均 衡器對信號的改善影響都考慮進去。 如果被測件是標準的PCI-E插槽接口，如何進行PCI-E的協議分析？測量PCI-E測試眼圖測試

PCIe背景概述PCIExpress(PeripheralComponentInterconnectExpress,PCle)總線是PCI總線的串行版本，廣泛應用于顯卡、GPU、SSD卡、以太網卡、加速卡等與CPU的互聯。PCle的標準由PCI-SIG(PCISpecialInterestGroup)組織制定和維護，目前其董事會主要成員有Intel、AMD、nVidia、DellEMC、Keysight、Synopsys、ARM、Qualcomm、VTM等公司，全球會員單位超過700家。PCI-SIG發布的規范主要有Base規范(適用于芯片和協議)、CEM規范(適用于板卡機械和電氣設計)、測試規范(適用于測試驗證方法)等，目前產業界正在逐漸商用第5代版本，同時第6代標準也在制定完善中。由于組織良好的運作、的芯片支持、成熟的產業鏈，PCIe已經成為服務器和個人計算機上成功的高速串行互聯和I/O擴展總線。圖4.1是PCIe總線的典型應用場景。海南PCI-E測試測試流程我的被測件不是標準的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進行PCI-E的測試？

PCIe5.0物理層技術PCI-SIG組織于2019年發布了針對PCIe5.0芯片設計的Base規范，針對板卡設計的CEM規范也在2021年制定完成，同時支持PCIe5.0的服務器產品也在2021年開始上市發布。對于PCIe5.0測試來說，其鏈路的拓撲模型與PCIe4.0類似，但數據速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大，整個鏈路的損耗達到 - 36dB@16GHz,其中系統板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預算的模型。

PCIe4.0的測試項目PCIe相關設備的測試項目主要參考PCI-SIG發布的ComplianceTestGuide(一致性測試指南)。在PCIe3.0的測試指南中，規定需要進行的測試項目及其目的如下(參考資料：PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測試):用于檢查主板以及插卡發射機和接收機的電氣性能。·ConfigurationTesting(配置測試):用于檢查PCIe設備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協議測試):用于檢查設備的鏈路層協議行為。pcie4.0和pcie2.0區別？

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數據鏈路層(Data Link Layer)根據高速串行通信的  特點進行了重新設計，上層的事務層(Transaction)和總線拓撲都與早期的PCI類似，典型  的設備有根設備(Root Complex) 、終端設備(Endpoint), 以及可選的交換設備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設備在北橋芯片內部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe  總線協議層的結構以及相關規范涉及的主要內容。PCI-E硬件測試方法有那些辦法；測量PCI-E測試眼圖測試

PCI-E 3.0數據速率的變化；測量PCI-E測試眼圖測試

由于每對數據線和參考時鐘都是差分的，所以主  板的測試需要同時占用4個示波器通道，也就是在進行PCIe4.0的主板測試時示波器能夠  4個通道同時工作且達到25GHz帶寬。而對于插卡的測試來說，只需要把差分的數據通道  引入示波器進行測試就可以了，示波器能夠2個通道同時工作并達到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發射機信號質量測試環境。無論是對于發射機測試，還是對于后面要介紹到的接收機容限測試來說，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對，每相鄰線對 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會不一致， 所以需要通過配合合適的ISI線對，使得ISI板上的Trace線加上測試電纜、測試夾具、轉接  頭等模擬出來的整個測試鏈路的插損滿足測試要求。比如，對于插卡的測試來說，對應的主  板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測試夾具、連接器、轉接頭、測  試電纜等的損耗應該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過分析軟件進行模擬)。 為了滿足這個要求，比較好的方法是使用矢量網絡分析儀(VNA)事先進行鏈路標定。測量PCI-E測試眼圖測試