現做一個測試電路，類似于圖5，驅動源是一個線性的60Ohms阻抗輸出的梯形信號，信號的上升沿和下降沿均為100ps，幅值為1V。此信號源按照圖6的三種方式，且其端接一60Ohms的負載，其激勵為一800MHz的周期信號。在0.5V這一點，我們觀察從信號源到接收端之間的時間延遲，顯示出來它們之間的時延差異。其結果如圖7所示，在圖中只顯示了信號的上升沿，從這圖中可以很明顯的看出，帶有四個地過孔環繞的過孔時延同直線相比只有3ps，而在沒有地過孔環繞的情況下，其時延是8ps。由此可知，在信號過孔的周圍增加地過孔的密度是有幫助的。然而，在4層板的PCB里，這個就顯得不是完全的可行性，由于其信號線是靠近電源平面的，這就使得信號的返回路徑是由它們之間的耦合程度來決定的。所以，在4層的PCB設計時，為符合電源完整性（powerintegrity）要求，對其耦合程度的控制是相當重要的。DDR3總線上的工作時序；眼圖測試DDR測試PCI-E測試

如何測試DDR？

DDR測試有具有不同要求的兩個方面：芯片級測試DDR芯片測試既在初期晶片階段也在封裝階段進行。采用的測試儀通常是內存自動測試設備，其價值一般在數百萬美元以上。測試儀的部分是一臺可編程的高分辨信號發生器。測試工程師通過編程來模擬實際工作環境；另外，他也可以對計時脈沖邊沿前后進行微調來尋找平衡點。自動測試儀（ATE）系統也存在缺陷。它產生的任意波形數量受制于其本身的后備映象隨機內存和算法生成程序。由于映象隨機內存深度的局限性，使波形只能在自己的循環內重復。因為DDR帶寬和速度是普通SDR的二倍，所以波形變化也應是其二倍。因此，測試儀的映象隨機內存容量會很快被消耗殆盡。為此，要保證一定的測試分辨率，就必須增大測試儀的內存。建立測試頭也是一個棘手的問題。因為DDR內存的數據讀取窗口有1—2ns，所以管腳驅動器的上升和下降時間非常關鍵。為保證在數據眼中心進行信號轉換，需要較好的管腳驅動器轉向速度。在頻率為266MHz時，開始出現傳輸線反射。設計工程師發現在設計測試平臺時必須遵循直線律。為保證信號的統一性，必須對測試頭布局進行傳輸線模擬。管腳驅動器強度必須能比較大限度降低高頻信號反射。 眼圖測試DDR測試PCI-E測試DDR平均速率以及變化情況；

DDR測試DDR/LPDDR簡介目前在計算機主板和各種嵌入式的應用中，存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩種：一種是非易失性的，即掉電不會丟失數據，常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-OnlyMemory),這種存儲器速度較慢，主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數據信息等；另一種是易失性的，即掉電會丟失數據，常用的有RAM(RandomAccessMemory,隨機存儲器),這種存儲器運行速度較快，主要用于程序運行時的程序或者數據緩存等。圖5.1是市面上一些主流存儲器類型的劃分

DDR測試信號和協議測試

DDR4一致性測試工作臺（用示波器中的一致性測試軟件分析DDR仿真波形）對DDR5來說，設計更為復雜，仿真軟件需要幫助用戶通過應用IBIS模型針對基于DDR5顆粒或DIMM的系統進行仿真驗證，比如仿真驅動能力、隨機抖動/確定性抖動、寄生電容、片上端接ODT、信號上升/下降時間、AGC(自動增益控制)功能、4tapsDFE(4抽頭判決反饋均衡)等。

克勞德高速數字信號測試實驗室

地址：深圳市南山區南頭街道中祥路8號君翔達大廈A棟2樓H區 DDR的信號測試和協議測試；

DDR測試

DDRSDRAM即我們通常所說的DDR內存，DDR內存的發展已經經歷了五代，目前DDR4已經成為市場的主流，DDR5也開始進入市場。對于DDR總線來說，我們通常說的速率是指其數據線上信號的快跳變速率。比如3200MT/s,對應的工作時鐘速率是1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數據線上比較高傳輸速率，由于在DDR總線上會有讀寫間的狀態轉換時間、高阻態時間、總線刷新時間等，因此其實際的總線傳輸速率達不到這個理想值。

克勞德高速數字信號測試實驗室

地址：深圳市南山區南頭街道中祥路8號君翔達大廈A棟2樓H區 DDR信號的讀寫分離方法；眼圖測試DDR測試PCI-E測試

DDR內存條電路原理圖；眼圖測試DDR測試PCI-E測試

DDR測試

DDR的信號仿真驗證由于DDR芯片都是采用BGA封裝，密度很高，且分叉、反射非常嚴重，因此前期的仿真是非常必要的。是借助仿真軟件中專門針對DDR的仿真模型庫仿真出的通道損耗以及信號波形。仿真出信號波形以后，許多用戶需要快速驗證仿真出來的波形是否符合DDR相關規范要求。這時，可以把軟件仿真出的DDR的時域波形導入到示波器中的DDR測試軟件中,并生成相應的一致性測試報告，這樣可以保證仿真和測試分析方法的一致，并且便于在仿真階段就發現可能的信號違規。 眼圖測試DDR測試PCI-E測試