STIL光學傳感器為全球各個行業(yè)提供更好的質量控制,我們的產品系列適合于各種應用，為更高的質量標準提供可靠的控制和檢測。1995年推出點光譜共焦傳感器，2005年創(chuàng)新推出線光譜共焦傳感器，2015出現線光譜共焦相機，通過持續(xù)創(chuàng)新，2025年將推出適用于工業(yè)4.0智能解決方案。在嚴苛的工業(yè)環(huán)境下客戶要求速度、精度、質量和安全滿足的同時，也要求減少對環(huán)境的影響和降低成本，這正是STIL傳感器產品系列具有的優(yōu)勢。適用于任何材料同軸共焦原理兼容任何折射，同軸共焦原理，易于工業(yè)集成，大角度測量，符合ISO25178-602標準。光譜共焦的特點：1.共焦對環(huán)境光不敏感可過濾雜波；2.彩色光譜在測量范圍內形成彩色光譜，各種景深3.光譜儀通過嵌入式光譜儀對反射或漫反射進行光譜分析，快速并精確4.同軸同軸光學設計，無陰影影響。可靠、精確、超高分辨率的尺寸測量；高速在線解決方案；適用各種材料和環(huán)境；優(yōu)于傳統(tǒng)測量方案的其他特性，如：大角度測量，亞微米級精度，測量多層厚度。適用于在線應用高靈敏度和高精度可提供卡鉗結構或測量設備可結合馬波斯Quick-SPC軟件進行數據處理。浙江光譜共焦視覺檢測傳感器廠家

而光譜共焦測量方法恰恰利用這種物理現象的特點。通過使用特殊透鏡，延長不同顏色光的焦點光暈范圍，形成特殊放大色差，使其根據不同的被測物體到透鏡的距離，會對應一個精確波長的光聚焦到被測物體上。通過測量反射光的波長，就可以得到被測物體到透鏡的精確距離。這一過程與攝影器材通過各種方法消減色差的過程正好相反。白色光通過一個半透鏡面到達凸透鏡。上述特殊色差就在這里產生。光線照射到被測物體后發(fā)生反射,透過凸透鏡，返回到傳感器探頭內的半透鏡上。半透鏡將反射光折射到一個穿孔蓋板上，小孔只允許聚焦好的反射光通過。透過穿孔蓋板的光是一組模糊光譜，也就是說若干不同波長的光都有可能穿過小孔照在CCD感光矩陣單元上。但是只有在被測物體上聚焦的反射光擁有足夠光強，在CCD感光矩陣上產生一個明顯的波峰。在穿孔蓋板后面，需要一個分光器測量反射光的顏色信息。分光器類似一個特制光柵，可以根據反射光的波長，增強或減弱折射率。因此，CCD矩陣上的每一個位置，對應一個測量物體到探頭的距離。江蘇3D 視覺測量傳感器測量速度機械手表：用于在線測量的傳感器比較大樣本斜率±45°；高達±88°的漫反射。

光譜共焦位移傳感器?外形尺寸測量?空氣夾層測量?厚度(透明物體)測量?段差高度(非透明物體)測量?外形輪廓測量?表面型貌測量?表面粗糙度測量?表面微小劃痕測量?三維測量?平面度測量優(yōu)勢??高分辨率，比較高可達納米級??高精度，比較高可達16納米??同軸光測量，相比較三角反射測量，無測量盲區(qū)??可以測量幾乎所有材料的表面，不論是漫反射表面，或者是高光亮面，或者是透明物體表面??物體表面的顏色對于測量結果沒有任何影響，可以解決對于激光難以測量的黑色或者白色物體??可以同時測量多層玻璃或者膠的厚度

ENITH控制器采用比較高質量標準制造，是一款堅固可靠的產品，可滿足車間環(huán)境（如實驗室）中**苛刻的應用，是工業(yè)環(huán)境中光譜共焦控制器的全新選擇。ZENITH控制器的柔性測量，可以將被測產品造成損害的可能性降低到零。基于以太網通訊，ZENITH可以在非接觸的情況下實現高精度的測量，而不會對被測產品造成任何損壞。ZENITH框架緊湊，結構穩(wěn)固，專為7天24小時全天候使用而設計。2ZENITH能夠在各種類型的材料和物體表面進行超高分辨率的距離和厚度測量，包括各種反射性材料。3高頻率采樣是ZENITH與編碼器（**多5個）結合用于外部測量同步的動態(tài)應用的理想選擇之一。4ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSSSTIL光學筆：CL-MG、OP、ENDO和EVEREST，實現達納米級精度的計量表現。光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，有需要可以聯(lián)系我司哦！

優(yōu)勢??非接觸三維表面輪廓測量??噪音小，測量重復性好??納米級分辨率：Z軸分辨率比較高可達0.1nm??測量的點云數多：一個面**多可以達到500萬個點??點間距小，XY分辨率高??多種視野范圍可供選擇，快速切換物鏡變換視野??測量速度快，可實現在線測量技術特點1.干涉條紋掃描測量表面位置信息的理論根據是被測表面上各點深度不同所形成的干涉光強不同。2.產生干涉情況下，波長與可測量的深度數據相對應。3.在白光干涉中，干涉圖樣是由各色光形成的單色干涉圖樣形成的。被測表面上各點的深度不同，根據光的波動性與同調性，所對應的干涉光強中各頻譜成分的強度不同，各色光的干涉級次不同。有助于更加準確的得到表面的位置信息馬波斯測量科技是一家專業(yè)提供光譜共焦傳感器的公司，期待您的光臨！天津線光譜共焦傳感器測量范圍

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什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測量技術中的測量精度，通常受機械振動和微掃描臺位置不準確的限制。為不再受此類環(huán)境干擾，開發(fā)了對振動不敏感的全新干涉測量法。采用這種新型干涉儀系統(tǒng)，干涉儀顯微鏡的精度可達亞納米級。光譜共焦干涉測量原理干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。成熟系統(tǒng)的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起，機械振動不會影響測量結果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用光譜共焦技術的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。浙江光譜共焦視覺檢測傳感器廠家