光譜共焦技術的非接觸測量Irix?是一系列基于彩色共焦技術的非接觸式傳感器，能夠測量對白光透明的任何材料上的距離和厚度。Irix?可同時測量5層材料。該控制器可與一大系列具有不同測量范圍、機械尺寸和計量規范的光學探針結合使用，以滿足多樣化的應用需求。控制器有兩種型號可供選擇：帶7英寸集成顯示屏，或帶有用于文件柜.display或采用盲板形式，機柜采用帶DIN導軌連接。Irix控制器系列由不同型號（1個和2個同步通道）組成，結合各種各樣的光學元件（Marposs和STIL），可提供優良的計量性能（高達納米）。Irix以比較高的質量標準制造，是一種堅固可靠的產品，適合在工業環境中使用。彩色共焦技術允許測量任何能夠反射白光的材料（例如：金屬、玻璃、塑料、漆膜、液體）。非接觸式測量適用于所有需要在不接觸目標的情況下進行測量的情況一個光學探針可同時測量多達五個透明層高測量精度可互換傳感器；Irix可保存多達32張地圖，以便使用比較合適的探頭。集成7“顯示器不受熱噪聲和電噪聲影響的無源光學探頭SDK和協議命令的可用性，便于集成到任何系統中縮小測量點動態采集用編碼器同步測量（空間同步）粗糙度測量馬波斯測量科技為您提供專業的光譜共焦傳感器，歡迎您的來電！黑龍江線光譜共焦傳感器測量速度

光譜共焦位移傳感器?外形尺寸測量?空氣夾層測量?厚度(透明物體)測量?段差高度(非透明物體)測量?外形輪廓測量?表面型貌測量?表面粗糙度測量?表面微小劃痕測量?三維測量?平面度測量優勢??高分辨率，比較高可達納米級??高精度，比較高可達16納米??同軸光測量，相比較三角反射測量，無測量盲區??可以測量幾乎所有材料的表面，不論是漫反射表面，或者是高光亮面，或者是透明物體表面??物體表面的顏色對于測量結果沒有任何影響，可以解決對于激光難以測量的黑色或者白色物體??可以同時測量多層玻璃或者膠的厚度黑龍江線光譜共焦傳感器測量速度馬波斯測量科技為您提供專業的光譜共焦傳感器，期待為您！

閃測儀測量更準確采用雙倍率雙側遠心光學鏡頭，具有較高的遠心度，即使有段差情況下也能高精度正確的測量。倍率涵蓋0.16X大視野/0.7X高精度。一鍵測量閃測儀是一種新型的影像測量技術，它和傳統的二次元影像測量儀不同的是它不再需要光柵尺位移傳感器作為精度標，也不要經過大焦距的鏡頭經過放大產品影像來保障測量精度。多年來精密測量業里流行著這么一句話：影像測量儀是傳統投影儀的替代產品，影像測量儀將取代傳統投影儀。如今我們將再一次打破傳統，閃測儀將取代影像測量儀和傳統投影儀

在半導體行業應用：LED芯片三維測量LED晶圓光學檢測BGA半導體封裝光伏晶圓表面形貌測量涂層厚度時與部件無任何接觸。激光和紅外傳感器可分析2至50厘米距離的涂層。這意味著可以在工業涂層環境中測量部件，即使它們位于移動產線上、在高溫環境中，甚至易碎或潮濕環境中。由于激光束產生的熱量極少，因此測量過程中涂層和部件都不會被損壞或改變。因此，對于那些迄今已有的方法會破壞測試樣品的工業運用，它也可以系統地測量每個部件。測量通常不到一秒鐘，具有高度重復性。這樣可以控制高達100％的涂層部件，嚴格遵循涂層工藝性能并實時反應以保持比較好狀馬波斯測量科技致力于提供專業的光譜共焦傳感器，竭誠為您。

顛覆傳統激光三角測距法，3D尺寸精密測量方案提供者線激光位移傳感器高場度高性價的線激光位移器，操作簡單易懂出廠時已作標定，用戶開箱即用，重新定義3D視覺，讓3D相機的使用和2D相機一致非接觸式晶圓厚度測量系統非接觸式晶圓厚度測量系統是一種利用氣體動靜壓原理工作的非觸式軸承，由于工作在平面度較好的花崗巖表面，因此本身也能獲得非常理想的使用。非接觸式晶圓粗糙度測量系統階梯式測量還原接觸測量真實結果:直線電機高精度龍門動機構:兼容拋光、未拋光透明及非透明晶圓測量馬波斯測量科技是一家專業提供光譜共焦傳感器的公司，歡迎您的來電！黑龍江線光譜共焦傳感器測量速度

馬波斯測量科技為您提供專業的光譜共焦傳感器。黑龍江線光譜共焦傳感器測量速度

什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測量技術中的測量精度通常受到機械振動和微掃描臺位置不準確性的限制。為了從這些環境干擾中解放出來，開發了一種新的對振動不敏感的干涉測量方法。采用這種新型光譜共焦干涉儀系統，干涉儀顯微鏡的潛在亞納米級精度是極其有效的。原理：干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。是光譜共焦傳感器等光學檢測儀器儀表中必然涉及到的概念。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。發達系統的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起，機械振動不會影響測量結果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用色彩共焦技術的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。黑龍江線光譜共焦傳感器測量速度