多個產品同時測量減少成本測量對象可任意擺放，多個產品可同時測量，**節省測量時間，減少用工成本！低畸變圖像無變形即便在鏡頭邊緣部位測量，圖像畸變也很小，無需擔心測量對象所放位置。缺陷過濾測量位置包含有毛邊或缺陷時系統能自動識別，排除異常點提高測量的準確度。數據追溯管理更簡單測量結果自動保存，可按測量日期、產品名稱、產品料號等信息搜索，數據追溯管理簡單。測量結果自動保存，可按測量日期、產品名稱、產品料號等信息搜索，數據追溯管理簡單。檢測報告及統計報告都可通過一鍵完成制作，無需數據傳輸及電腦輸入等繁瑣的過程，支持多種格式。光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，歡迎客戶來電！山西stil傳感器精度

優勢?具有自主知識產權的算法和軟硬件設計?·具備高速原始點云傳輸能力?·具備深度圖輸出對接各大機器視覺軟件?·高達2048測量點的X向輪廓檢測?·出色的光學設計,可檢測高反光、玻璃等材料?·405nm藍色激光,面向精密電子與汽車鈑金行業需求?·1P67防護等級,防塵、防水、抗震?·可靠工作于0-50℃技術特點產品基于激光三角法測量原理：圖像傳感模組從一個角度檢測投射到被測物體表面上的激光線，反射光透過高質量光學系統，被投射到成像單元上。圖像處理計算傳感器到被測表面的高度方向(Z軸)和沿著激光線的方向(x軸)的距離信息。通過移動被測物體或傳感器，獲取的一系列切片信息進行組合，就可以得到三維數據。山西stil傳感器解決方案光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，用戶的信賴之選，歡迎您的來電！

什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測量技術中的測量精度，通常受機械振動和微掃描臺位置不準確的限制。為不再受此類環境干擾，開發了對振動不敏感的全新干涉測量法。采用這種新型干涉儀系統，干涉儀顯微鏡的精度可達亞納米級。光譜共焦干涉測量原理干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。成熟系統的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起，機械振動不會影響測量結果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用光譜共焦技術的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。

ENITH控制器采用比較高質量標準制造，是一款堅固可靠的產品，可滿足車間環境（如實驗室）中**苛刻的應用，是工業環境中光譜共焦控制器的全新選擇。ZENITH控制器的柔性測量，可以將被測產品造成損害的可能性降低到零?；谝蕴W通訊，ZENITH可以在非接觸的情況下實現高精度的測量，而不會對被測產品造成任何損壞。ZENITH框架緊湊，結構穩固，專為7天24小時全天候使用而設計。2ZENITH能夠在各種類型的材料和物體表面進行超高分辨率的距離和厚度測量，包括各種反射性材料。3高頻率采樣是ZENITH與編碼器（**多5個）結合用于外部測量同步的動態應用的理想選擇之一。4ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSSSTIL光學筆：CL-MG、OP、ENDO和EVEREST，實現達納米級精度的計量表現。馬波斯測量科技致力于提供專業的光譜共焦傳感器，歡迎您的來電哦！

什么是光譜共焦？光學傳感器提供比較好的技術以滿足非接觸尺寸測量**苛刻的要求?；谑褂每臻g彩色編碼的創新光學原理，我們的傳感器使用戶能夠以非凡的精確度對任何類型的材料進行測量。用于工業環境中的設計，STIL傳感器的各系列，吸引集成器與測量檢測機器輕松連接，這歸功于為每臺儀器提供的動態鏈接庫（DLL）光學原理我們的光學傳感器基于高度創新的共焦彩色成像原理。入射的白光***通過彩色物鏡成像為沿Z軸的連續單色圖像，從而沿光軸提供“顏色編碼”反向散射的光束通過過濾***進入光譜儀，該光譜儀確定波長已完全聚焦于物體上，然后精確地確定其在測量場的位置。共聚焦光譜成像技術以極高的分辨率提供可靠、精確和可再現的尺寸測量。用點光譜或線光譜傳感器測量晶圓上的翹曲/平面度 凸塊測量CLMG/EVERESTK1/K2傳感器系列可達360,000測點/秒。遼寧3D 視覺測量傳感器品牌

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測量狀態指示燈包含三個LED信號燈，分別顯示系統錯誤、光信號強度和量程預警。系統錯誤信號燈指示傳輸數據是否過載，光信號強度指示燈顯示當前光強信號是否超過5%，而量程預警指示燈則顯示測量樣品是否在量程范圍內。系統錯誤信號燈正常狀態為關閉狀態，即不顯示任何顏色光。但當使用RS232或RS422接口同時傳輸數據時，測量頻率和傳輸數據格式都可能影響數據傳輸量。當傳輸數據量過載時，該信號燈點亮為紅色狀態，此時則應該適當降低測量頻率或更改數據傳輸格式。此外，選用USB方式傳輸則會較少遭遇數據過載情況。山西stil傳感器精度