YMS（良率管理系統）的本質是將海量測試數據轉化為精確的質量決策依據。系統兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester設備，自動解析stdf、csv、log、jdf等多種格式數據，完成端到端的數據治理。在此基礎上，通過標準化數據庫實現時間序列追蹤與晶圓區域對比，例如發現某批次中心區域缺陷密度突增，可聯動WAT參數判斷是否為離子注入劑量漂移所致。SYL與SBL的自動計算功能為良率目標達成提供量化基準，而靈活報表工具支持一鍵導出PPT、Excel或PDF格式報告，減少手工整理負擔。這種從原始數據到管理行動的無縫銜接，極大提升了質量團隊的工作效能。上海偉諾信息科技有限公司專注于半導體行業軟件研發，確保YMS功能緊貼實際生產需求。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。湖北可視化PAT解決方案

在晶圓制造過程中，制程偏差是導致良率損失的主要因素之一，其典型表現即為晶圓上Die的區域性集群失效。此類失效并非隨機分布，而是呈現出與特定制程弱點緊密相關的空間模式，例如由光刻熱點、CMP不均勻或熱應力集中所導致的失效環、邊緣帶或局部區塊。然而，一個更為隱蔽且嚴峻的挑戰在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個“受影響區”。該區域內的Die雖然未發生catastrophicfailure，其內部可能已產生參數漂移或輕微損傷，在常規的CP測試中，它們仍能滿足規格下限而呈現出“Pass”的結果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續封裝應力或終端應用的嚴苛環境下，早期失效的風險將明細高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規的良率分析已不足以應對。必須借助特定的空間識別算法，對晶圓測試圖譜進行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據此將失效區周圍一定范圍內的“PassDie”也定義為高風險單元并予以剔除。這一操作是構建高可靠性產品質量防線中至關重要的一環。 中國澳門GDBC系統價格Mapping Over Ink處理算法組合可根據產品類型靈活配置，適配消費級至前沿芯片需求。

良率管理服務的價值體現在全生命周期的技術陪伴與問題解決能力。YMS系統不僅提供數據采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺，更通過售前技術咨詢、售中合理化方案定制與售后標準化服務，確保系統與客戶實際流程深度契合。當客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設備后，系統自動處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數據，完成異常檢測與結構化存儲。管理者可通過圖表直觀掌握良率趨勢、區域缺陷分布及WAT/CP/FT參數關聯性，快速制定改進措施。SYL與SBL的自動計算與閾值監控，進一步提升過程穩定性。靈活的報表工具支持多格式導出，打通從車間到決策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完善的服務體系支撐YMS落地，持續助力半導體企業邁向高質量發展。

當封測廠每日面對來自數十臺測試機臺的海量異構數據時，傳統手工匯總方式已難以滿足實時質量管控需求。YMS系統通過自動化流程，即時采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設備輸出的原始測試數據，剔除重復、缺失與異常記錄，構建高可信度的數據底座。標準化數據庫支持從時間軸追蹤良率波動，或聚焦晶圓特定區域識別系統性缺陷，結合WAT、CP、FT參數變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當某批次FT良率驟降時，系統可聯動CP數據判斷是否為封裝環節引入問題，縮短排查周期達數小時。圖表化界面與日報、周報、月報自動生成機制，使管理層能基于一致數據源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解，將YMS打造為數據驅動質量改進的關鍵工具。Mapping Over Ink處理支持結果回溯，確保數據在供應鏈中無縫傳遞。

當封測廠面臨多設備、多格式測試數據難以統一處理的困境時，YMS系統通過自動化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數據，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，明顯降低人工干預成本。標準化數據庫實現數據統一分類，支持從時間趨勢到晶圓區域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動點。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節點，強化過程質量防線。靈活報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協同效率。系統報價覆蓋軟件授權、必要定制及全周期服務，確保投入產出比合理。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS功能，助力客戶實現高性價比的良率管理。上海偉諾信息科技Shot Map功能，可以自定義設定Wafer Mapping上Reticle區域并按規則Ink。西藏晶圓GDBC系統價格

Mapping Over Ink處理提升產品市場競爭力，降低客戶投訴率。湖北可視化PAT解決方案

面對國產半導體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統成為打通數據孤島、實現質量閉環的關鍵工具。系統自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數據，通過內置算法識別重復項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續分析基于高可信度數據源。在標準化數據庫支撐下，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝波動點。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注打造適配本土需求的YMS系統，助力構建中國半導體軟件生態。湖北可視化PAT解決方案

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