在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結果的重要載體，其數據完整性直接決定了良率分析的準確性與生產流程的可追溯性。然而在實際量產環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數據丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發(fā)生。這類數據異常不僅會導致當批晶圓的測試結果無法被正確解析，更會中斷生產信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質量追溯與制程優(yōu)化喪失依據，對整體產品良率與制程管控構成嚴峻挑戰(zhàn)。

針對這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實際測試場景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉換解決方案，致力于從根本上保障數據流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統(tǒng)生成的原始Mapping數據，智能、精確地轉換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內的多種設備類型。通過這一轉換流程，用戶不僅能夠有效恢復因格式問題而“失效”的測試數據，避免晶圓重復測試帶來的成本與時間損失，更能構建起一條從測試到封裝的高可靠性數據通道，從而提升整體生產流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅實的數據基石。 工藝窗口優(yōu)化得益于Mapping Over Ink處理對失效模式的精確識別，提升制造良率水平。半導體PAT系統(tǒng)

當企業(yè)評估良率管理系統(tǒng)的投入產出比時，功能覆蓋度與服務適配性成為關鍵考量。YMS系統(tǒng)提供從基礎數據采集到深度分析的多級配置選項，可根據企業(yè)規(guī)模與業(yè)務復雜度靈活調整。基礎模塊滿足自動化數據接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監(jiān)控、異常自動過濾及定制化報表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標準數據格式，確保系統(tǒng)即插即用。價格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時保障長期使用價值。配合完善的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標準化服務，系統(tǒng)全生命周期成本明顯降低。這種高性價比的部署模式，使企業(yè)在有限預算下仍能實現(xiàn)良率數據的閉環(huán)管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體行業(yè)的深刻理解，為客戶提供兼具經濟性與擴展性的YMS解決方案。半導體PAT系統(tǒng)上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質量風險芯片。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數據流，傳統(tǒng)手工轉換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結構完整。系統(tǒng)支持批量歷史數據導入與實時測試流同步處理，無論數據來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉化為可用于分析的標準數據集。在此基礎上，異常值被自動過濾，重復記錄被精確剔除，明顯提升數據可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數據特征，構建了這一高效可靠的數據預處理體系。

測試數據長期累積導致存儲空間迅速膨脹，而大量重復或無效記錄加劇資源浪費。YMS在數據入庫前自動清洗，剔除重復提交、通信錯誤產生的冗余信息，并將stdf、csv、txt等異構格式統(tǒng)一壓縮存儲于標準化數據庫。集中式管理不僅提升磁盤利用率，還簡化備份與維護流程。企業(yè)無需為無效數據支付額外硬件成本，也降低了IT運維復雜度。這種“精簡有效”的存儲策略，在保障數據完整性的前提下實現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數據治理融入YMS設計，助力客戶在控制成本的同時構建可持續(xù)的數據資產體系。UPLY處理針對特定層間關聯(lián)缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。

在封測工廠的日常運營中，良率波動往往源于測試數據分散、格式不一或異常信息未被及時識別。YMS系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測試數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常數據過濾，確保后續(xù)分析基于準確、完整的數據基礎。通過標準化數據庫對數據統(tǒng)一分類，系統(tǒng)支持從時間序列追蹤良率趨勢，或從晶圓區(qū)域對比缺陷分布，快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數的自動計算與卡控機制，進一步強化了質量防線。靈活的報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，滿足從產線到管理層的信息需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)深耕半導體軟件領域，其YMS系統(tǒng)已成為封測企業(yè)實現(xiàn)質量閉環(huán)管理的重要支撐。Mapping Over Ink處理通過空間分析有效識別外觀損傷引起的隱性失效，提升可靠性。陜西可視化GDBC服務

工藝工程師基于GDBC聚類結果優(yōu)化制程參數，提升制造良率水平。半導體PAT系統(tǒng)

在智能制造轉型背景下，YMS已不僅是數據分析工具，更是連接測試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實時匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺的測試結果，自動完成結構化清洗與整合，消除信息孤島。標準化數據庫支持動態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識別某機臺連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設備校準預警。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報表引擎支持按產品線、客戶或班次生成定制化報告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預—反饋”的閉環(huán)機制，明顯提升了生產過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。半導體PAT系統(tǒng)

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區(qū)的數碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領導下，全體上下，團結一致，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結經驗，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！