不同封測廠的設備組合、工藝路線和管理重點差異明顯，標準化系統難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產良率管理方案，可根據客戶實際接入的Tester設備（如T861、STS8107、MS7000等）和數據結構，調整解析邏輯、分析維度與報表模板。例如，針對高頻返工場景，可定制缺陷聚類規則；針對客戶審計需求，可開發合規性報告模塊。系統底層保持統一數據治理規范，上層應用則靈活適配業務流程，確保數據質量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動計算與多格式報表導出功能，進一步提升質量閉環速度。這種“量體裁衣”式的服務模式，使系統真正融入客戶日常運營。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發視為價值共創過程，以技術靈活性支撐客戶業務獨特性。Mapping Over Ink處理系統在質量事件發生時自動觸發設備維護工單，實現預防性維護。吉林Mapping Inkless服務商

Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進行智能分析、處理，并直接驅動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉化為物理世界中的行動——將不良品標記出來，使其在后續封裝中被剔除。其重點是預見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。

上海偉諾信息科技有限公司作為半導體測試領域的解決方案供應商，致力于為國內外半導體設計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業界前沿、專業的數據分析與處理模塊，旨在通過多重維度的智能篩選，構筑起一道安全的質量防線，有效地提升用戶的晶圓測試質量與產品可靠性。 可視化MappingOverInk處理步驟上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。

芯片制造對良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統通過自動接入各類Tester平臺產生的多格式測試數據，完成高精度的數據解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實可靠。系統依托標準化數據庫，支持按時間、區域、批次等多維度進行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發與制造團隊快速響應異常。結合WAT、CP、FT等關鍵節點數據的變化，可深入剖析工藝穩定性或設計兼容性問題。SYL與SBL參數的自動計算與卡控，為芯片級質量提供雙重保障。報表工具支持按模板生成周期報告，并導出為常用辦公格式，提升信息流轉效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注于半導體系統軟件研發，其YMS系統正成為國產芯片企業提升產品競爭力的關鍵助力。

ZPAT 是一種基于統計學的芯片篩選技術，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產品的可靠性。在實際的應用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應對日益嚴苛的“零缺陷”質量挑戰，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數超出統計控制界限的異常芯片，從而構筑起一道基于動態統計過程控制的智能質量防線。 Mapping Over Ink處理強化封測環節質量防線，攔截潛在失效風險Die。

良率管理的目標是將海量測試數據轉化為可執行的工藝洞察。YMS系統通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數據，完成端到端的數據清洗與整合，消除人工干預帶來的誤差與延遲。在此基礎上，系統構建標準化數據庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內邊緣區域良率驟降是否與刻蝕參數漂移相關。結合WAT、CP、FT數據的交叉驗證，可區分設計缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計算與實時卡控，為關鍵指標設置動態防線。周期性報告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導出，使管理層能基于一致數據源快速決策。這種從數據到行動的閉環機制，明顯提升了生產過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導體軟件生態為使命，持續推動YMS成為行業提質增效的基礎設施。上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質量風險芯片。吉林Mapping Inkless服務商

多輪重測數據動態更新Mapping Over Ink處理的Ink決策，確保篩選結果實時優化。吉林Mapping Inkless服務商

晶圓制造環節的良率波動直接影響整體產出效率，YMS系統通過全流程數據治理提供有力支撐。系統自動采集并解析來自主流測試設備的多源異構數據，建立標準化數據庫，實現對晶圓批次、區域乃至單點良率的精細化監控。結合WAT、CP、FT等關鍵測試數據的變化趨勢，系統可快速鎖定影響良率的關鍵因素，指導工藝參數調優。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關鍵指標，輔助工程師高效決策。同時，系統支持按模板生成周期性報告，并導出為常用辦公格式，滿足生產與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產半導體軟件生態為使命，其YMS產品正持續助力制造企業邁向高質量、高效率的發展新階段。吉林Mapping Inkless服務商

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！