電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功能。電子探針的構成除了與掃描電鏡結構相似的主機系統以外，還主要包括分光系統、檢測系統等部分。電子探針主要由電子光學系統（鏡筒），X射線譜儀和信息記錄顯示系統組成。電子探針和掃描電鏡在電子光學系統的構造基本相同，它們常常組合成單一的儀器。1953年前蘇聯制成了X射線微區分析儀，以后英、美等國陸續生產。寶山區標準探針按需定制

DNA探針根據其來源分為3種：一種來源于基因組中的基因本身，稱為基因組探針（genomic probe），可以是基因的全序列，或者基因上的一段序列；另一種是從相應的基因經轉錄獲得mRNA，再通過逆轉錄得到的探針，稱為cDNA探針（cDNA probe）；此外，還可在體外人工合成20～50個堿基的與基因序列互補的DNA片段，稱為寡核苷酸探針。 [1]基因組DNA探針的獲得有賴于分子克隆技術的發展和應用。要得到一種特異性DNA探針，常常是比較煩瑣的。以細菌為例，細菌的基因組大小約為5×106堿基，約含3000個基因。要獲得某細菌特異的核酸探針，通常要采取建立細菌基因組DNA文庫的辦法，即將細菌DNA切成小片段后（如用限制性內切酶做不完全水解）分別克隆得到包含基因組的全信息的克隆庫，然后用多種其他菌種的DNA探針來篩選，產生雜交信號的克隆被剔除，***剩下的不與任何其他細菌雜交的克隆則可能含有該細菌特異性DNA片段。黃浦區挑選探針現價除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。

2）X射線能譜分析法。無須分析晶體，而直接將探測器接收的訊號加以放大，進行脈沖幅度分析，通過選擇不同的脈沖幅度來確定入射x射線的能量，從而區分不同的特征X射線。計算時應用布拉格方程：nλ=2dsinθ。 [2]1、能進行微區分析。可分析數個μm3內元素的成分。2、能進行現場分析。無需把分析對象從樣品中取出，可直接對大塊試樣中的微小區域進行分析。把電子顯微鏡和電子探針結合，可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯系起來。3、分析范圍廣。Z>4其中，波譜：Be~U，能譜：Na~U。

探針DNA克隆的篩選也可采用血清學方法，所不同的是所建DNA文庫為可表達性，克隆菌落或噬斑經裂解后釋放出表達抗原，然后用來源細菌的多克隆抗血清篩選陽性克隆，所得到多個陽性克隆再經其它細菌的抗血清篩選，***只與本細菌抗血清反應的表達克隆即含有此細菌的特異性基因片段，它所編碼的蛋白是該菌種所特有的。用這種表達文庫篩選得到的顯然只是特定基因探針。對于基因探針的克隆尚有更快捷的途徑。這也是許多重要蛋白質的編碼基因的克隆方法。該方法的第一步是分離純化蛋白質，然后測定該蛋白的氨基或羥基末端的部分氨基酸序列，然后根據這一序列合成一套寡核苷酸探針。電子探針的構成除了與掃描電鏡結構相似的主機系統以外，還主要包括分光系統、檢測系統等部分。

早期采用的RNA探針是細胞mRNA探針和病毒RNA探針，這些RNA是在細胞基因轉錄或病毒復制過程中得到標記的，標記效率往往不高，且受到多種因素的制約。這類RNA探針主要用于研究目的，而不是用于檢測。例如，在篩選逆轉錄病毒人類免疫缺陷病毒（HIV）的基因組DNA克隆時，因無DNA探針可利用，就利用HIV的全套標記mRNA作為探針，成功地篩選到多株HIV基因組DNA克隆。又如進行中的轉錄分析（nuclearrunontranscrip－tionassay）時，在體外將細胞核分離出來，然后在α-32P-ATP的存在下進行轉錄，所合成mR－NA均摻入同位素而得到標記，此混合mRNA與固定于硝酸纖維素濾膜上的某一特定的基因的DNA進行雜交，便可反映出該基因的轉錄狀態，這是一種反向探針實驗技術。計算時應用布拉格方程：nλ=2dsinθ。崇明區特制探針品牌

當某一X射線光子進入計數管后，管內氣體電離，并在電場作用下產生電脈沖信號。寶山區標準探針按需定制

利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數。分析前要根據試驗目的制備樣品，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。定性分析1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號同時檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強。寶山區標準探針按需定制

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