由于是針對目標響應值相對大小關系的校正，這就使得一點校正法可以在目標響應值與校正測量值相近時的任何情況下都能較好地成像。例如，一種很常見的實現方式是在環境溫度、FPA溫度變化后，通過實時動態調節積分時間、全局偏置等參數，讓目標響應值回到與校正測量時相近的范圍內，則成像一般不成問題，但這樣處理后將導致測溫算法復雜化甚至根本無法實現測溫功能。各廠家在一點校正法的工藝實現中，還有個普遍的謬誤：用高、低溫黑體爐作校正測量，但在應用中卻是用的檔片機構此時檔片起到的是參考黑體的作用。如果用外檔片則還與校正測量的情況比較接近，但內檔片差得就很離譜了。水份分析儀(溫度部分)、冰箱焓差試驗室、空調焓差試驗室、黑體爐。高精度黑體爐BR70

黑體在工業上主要應用于測溫領域，其主要的產品是黑體爐。對輻射溫度計的校準、檢定，通常采用比較法，就是通過高穩定度的輻射源（通常為黑體輻射源）和其他配套設備，將標準器所復現的溫度與被檢輻射溫度計所復現的溫度進行比較，以判斷其是否合格或給出校準結果。在校準、檢定工作中，輻射源一般在-6～1200℃（或1600℃）范圍內可用開口式中、低溫黑體爐，1200（或1600℃）～3200℃采用抽真空并充惰性氣體保護的高溫黑體爐。標準器分別為二等標準熱電偶（二等標準鉑電阻溫度計）和標準光學（光電）高溫計。輻射溫度計是依據物體輻射的能量來測量溫度的儀表。根據輻射理論，任何物體只要不處于-273.15℃，那么在其他任意溫度下都存在熱輻射。處于熱平衡狀態的黑體在半球方向的單色輻射出射度是波長和溫度的函數。國產黑體爐BR125置于黑體爐中(有效發射率>，光欄孔徑不小于10 mm)，升溫至100 ℃。

選用測溫儀，要注意輻射路徑的吸收。因為可以測的范圍很廣，所以可以針對不同的吸收情況，選擇合適的波長。在高溫區，測量金屬材料的比較好波長是近紅外，可選用0.8～1.0um。其他溫區可選用1.6μm、2.2μm、3.9μm。在低溫測量應用中，通常用Ge或Si材料作為窗口，不透可見光，人眼不能通過窗口觀察目標。如操作員需要通過窗口目標，應采用既透紅外輻射又透過可見光的光學材料，如應采用既透紅外輻射又透過可見光的光學材料，如ZnSe或BaF2等作為窗口材料。紅外測溫儀必須經過標定才能使它正確地顯示出被測目標的溫度。一般的紅外測溫的校準周期是一年，建議選用腔形，發射率達到0.99的黑體爐，才能準確的校準紅外測溫儀

黑體輻射源的發展歷史:早期的黑體輻射源，結構簡單，腔體材料多應用碳硅化物、陶瓷或石墨，采用恒溫油槽或非均勻布置的加熱絲來取得均勻溫場，為取得較好的黑體輻射特性，開口孔徑都比較小。比較典型的有1960年由Bed-ford設計的工作于200℃的黑體爐，恒溫油均溫，光闌朝下，探測器可見內表面溫差小于0.01℃，εn=0.998±0.001;1966年，由Clark和Moore設計的工作于1100～1325℃的黑體爐，加熱絲非均勻布置，空腔內表面覆蓋鎳氧化層（Ni2O3）對初篩檢不符合的額溫計增加了低溫黑體爐復核方法。

黑體是用于標定紅外系統的基準源，它的光譜能量是可以通過計算而獲得，是工業、實驗室、科研、**用來標定紅外點式測溫儀、線型掃描測溫儀、熱成像儀的標準源。在**領域，可以作為整套光電測試系統的一部分。常用黑體爐，用數字顯示文控器來控制輻射源溫度，可在環境溫度與1100℃范圍內任意設置黑體輻射溫度。精密熱電阻、熱電偶裝在黑體輻射源的內部，能提高黑體的精度和重復性。利用PID溫控器使用黑體輻射溫度分辨率達到比較高0.1℃，黑體輻射源使用了耐熱而性能穩定的保濕材料，具有壽命長、溫度穩定快的特點。其內部結構設計緊湊，便于攜帶，使用方便，是溫度測量儀器進行溫度校準的較理想的目標源。紅外線測溫儀的標準化檢定方法是采用黑體爐檢定。新型黑體爐BR1450

“每一個成品都需要經過專業的黑體爐做兩個溫度點校準，一是32℃，一是42℃。高精度黑體爐BR70

中國計量科學研究院基準髙溫裝置一高溫光電比較儀光路圖。工作時，小金點黑體爐經物鏡成像于調制器7的狹縫上，經調制轉換為交流光信號。信號由光導纖維混合、傳輸，并于聚光透鏡焦點上聚焦，經聚光鏡和干涉濾光片后，由聚光透鏡14均勻地聚焦到光電倍增管的陰極上。經調制的光相位相反，當兩束光亮度不等時，一個交變光能量由光電倍增管接收，使指零儀表不指“0”，調節被檢燈電流，以達亮度平衡。若兩光源亮度相等，則被檢光源的亮度溫度就等于標準光源的亮度溫度。高精度黑體爐BR70