RU2 光柵尺讀數頭是高精度單場掃描系列讀數頭,專為高精度直線測量提供反饋而設計的增量型讀數頭,采用LAMOTION 先進的單場掃描技術、先進的自動增益、自動糾偏技術,可讀取20um 柵尺,精度高、抗污染性能強,適用于高精密機床、高速自動化設備等需要閉環、速度控制的高性能、高可靠性應用場合。RU2 光柵尺讀數頭兼容LAMOTION 先進的 RUS系列鋼帶柵尺,以及RUS-127系列插槽式鋼帶尺。讀數頭內置的真高速ADC 細分可以提供更大帶寬:同時更有效降低細分噪聲和細分誤差,配合濾波在保證低位置噪聲和平滑的速度控制情況下,可達到 20nm 的有效分辨率,內置REF 參考原點和限位輸出,并提供標準的差分TTL數字增量接口,多色的 LED 集成在讀數頭上,可指示信號強度,方便安裝。產品特點:最高分辨率20nm;極強的抗污染能力:大面積單場掃描技術,大于100條柵線同時掃描,有效降低灰塵等其他污染物帶來的影響;高帶寬,低細分誤差:內置高速ADC和濾波電路,提供更高的帶寬、更高的分辨率、更高的動態響應,更低的細分誤差;自動增益控制,自動糾偏:先進的自動增益控制、自動糾偏電路與算法,提供更穩定的信號輸出,安裝也更加容易;多色指示燈提示信號強度,安裝狀態。安裝光柵尺需嚴格校準基準面,避免機械振動導致測量誤差影響系統精度。福州光柵尺類型

光柵尺工作原理是基于莫爾條紋的形成和分析技術的一種精密位移測量方式。光柵尺主要由標尺光柵和光柵讀數頭兩部分組成。標尺光柵通常固定在機床的運動部件上,其上有一系列等間距的刻線;而光柵讀數頭則固定在機床的靜止部件上,包含指示光柵和檢測系統。當光柵讀數頭中的指示光柵與標尺光柵相互靠近并且存在微小角度時,兩者的線紋交叉會產生一系列明暗相間的莫爾條紋。這些條紋的形成是由于兩組線紋重疊產生的光波干涉效應,當兩線紋完全對齊時為亮區,錯開一定角度時則形成暗區。隨著標尺光柵隨機床部件移動,莫爾條紋的圖案會隨之變化。通過光電探測器或傳感器捕捉這些變化,可以分析出莫爾條紋的移動距離,進而轉換成機床部件的實際位移量。為了提高測量精度,現代光柵尺還采用了細分技術,通過電子或光學方法進一步細化莫爾條紋的分析,使得讀數分辨率遠高于物理光柵的原始刻線間隔。拉薩光柵尺公司光柵尺的動態特性測試包括階躍響應和頻率響應,驗證系統的跟蹤能力。

光柵尺規格在選擇和應用中扮演著至關重要的角色。光柵尺作為一種精密的位移測量工具,其規格直接決定了測量的精度和適用范圍。一般來說,光柵尺的長度規格多樣,從幾厘米到數米不等,這為用戶提供了極大的靈活性,可以根據具體需求選擇合適的尺寸。精度是光柵尺規格中的另一個重要參數,通常以微米(μm)或納米(nm)為單位,高精度的光柵尺能夠提供更準確的測量結果,適用于對位移精度要求極高的場合,如精密機械加工、半導體制造等。此外,光柵尺的分辨率也是一個重要規格,它決定了測量的細膩程度,高分辨率的光柵尺能夠捕捉到更微小的位移變化。在選擇光柵尺時,用戶還需考慮其工作環境,包括溫度、濕度以及可能的機械振動等因素,這些因素都可能影響光柵尺的性能和壽命。因此,了解并正確選擇光柵尺規格,對于確保測量結果的準確性和可靠性至關重要。
在光柵尺的制作過程中,還需要特別注意工藝控制和質量控制。工藝控制涉及到光柵的刻劃、清洗、組裝等多個環節,每一個環節都需要嚴格控制參數和條件,以避免引入誤差。質量控制則包括對光柵尺的精度、重復性、穩定性等指標進行嚴格檢測和測試。這通常需要使用高精度的測量設備和測試方法,以確保光柵尺的性能符合設計要求。此外,制作過程中還需要考慮光柵尺的防護和保養,如添加保護罩、防塵密封條等,以延長其使用壽命并保持測量精度。總的來說,光柵尺的制作是一個涉及多個學科和技術的綜合性過程,需要嚴格遵循設計要求和制作工藝,以確保其高精度和可靠性。光柵尺信號輸出接口多樣化,支持SSI、BISS、FANUC等工業協議。

PI20系列光柵為一體式不銹鋼圓光柵,其柱面上刻有20μm柵距的增量式刻線,并具有光學參考零位。具有六種尺寸可供選擇(直徑75、100、115、150、200、300mm)。圓光柵安裝精度很好,且具有錐面安裝系統,可減少對公差要求高的加工零件的需求,并消除偏心。具有內徑大、安裝靈活的特點。非接觸形式消除了傳統封閉式光柵固有的反向間隙、扭轉誤差(扭變)及其他機械滯后誤差。適配RX2讀數頭。產品特點:一體式不銹鋼圓光柵,20 μm柵距,光學零位;多直徑選擇(直徑75、100、115、150、200、300 mm);錐面安裝系統,可減少對公差要求高的加工零件的需求,并消除偏心,安裝靈活的特點;非接觸形讀取,沒有反向間隙和扭轉誤差(扭變)及其他機械滯后誤差。納米壓印設備采用差分式光柵尺設計,消除共模誤差提升重復精度。蘭州光柵尺作用
極端振動環境下需使用減振支架安裝光柵尺,衰減100Hz以上高頻振動。福州光柵尺類型
光柵尺的工作原理是基于物理上的莫爾條紋形成原理。當兩個具有相同周期的光柵——標尺光柵和指示光柵,以一定的微小夾角或相對位移重疊時,會在重疊區域產生明暗相間的莫爾條紋。這些條紋的形成是由于兩組線紋重疊時產生的光波干涉效應。在光源的照射下,交叉點附近的小區域內由于黑色線紋重疊,遮光面積較小,光線累積形成亮帶;而遠離交叉點的區域,由于線紋重疊部分減少,遮光面積增大,形成暗帶。光柵讀數頭中的光電探測器捕捉這些莫爾條紋的變化,將其轉化為電信號。隨著標尺光柵隨機床部件的移動,莫爾條紋的圖案也會相應變化,通過分析這些變化的電信號,就可以精確計算出機床部件的位移量。這種工作原理使得光柵尺成為一種高精度、高分辨率的位移測量裝置,普遍應用于數控機床、半導體制造、測量儀器和機器人技術等領域。福州光柵尺類型