USB4.0的接收容限測(cè)試

對(duì)于USB4.0的接收端來(lái)說(shuō)，主要進(jìn)行的是接收容限測(cè)試，用于驗(yàn)證接收端在壓力信號(hào)(StressedElectricalSignal)下的表現(xiàn)。具體的測(cè)試項(xiàng)目包括壓力信號(hào)的誤碼率測(cè)試(BER)、突發(fā)誤碼率測(cè)試(MultiError-Burst)、頻率偏差(FrequencyVariations)、回波損耗(ReturnLoss)等。

誤碼率的測(cè)試要在壓力信號(hào)下進(jìn)行，因此需要先用高速誤碼儀的碼型發(fā)生器產(chǎn)生帶預(yù)加重、正弦抖動(dòng)(PJ)、隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)、共模噪聲(ACCM)的信號(hào)，并用高帶寬示波器進(jìn)行壓力信號(hào)校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完成后再把壓力信號(hào)注入被測(cè)件，在不同的正弦抖動(dòng)幅度和頻率下進(jìn)行誤碼率測(cè)試。在USB4.0的接收容限測(cè)試中，需要做兩種場(chǎng)景的測(cè)試：Casel的測(cè)試中沒有插入U(xiǎn)SB電纜，模擬鏈路損耗小的情況；Case2的測(cè)試中要插入2m usb2.0信號(hào)質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)；設(shè)備USB測(cè)試PCI-E測(cè)試

USB測(cè)試

在USB4.0的接收容限測(cè)試中，壓力信號(hào)的產(chǎn)生和校準(zhǔn)是非常復(fù)雜的工作，同時(shí)測(cè)試中 還需要和被測(cè)設(shè)備進(jìn)行頻繁的數(shù)據(jù)讀取和交互，因此接收容限測(cè)試都是在自動(dòng)測(cè)試軟件的 控制下進(jìn)行。

除了接收容限測(cè)試以外，為了控制接收端的反射影響，USB4.0的規(guī)范還要求對(duì)接收端 的回波損耗(Return Loss)進(jìn)行測(cè)試。這個(gè)測(cè)試主要借助于網(wǎng)絡(luò)分析儀，對(duì)端口的差模和共模回波損耗進(jìn)行測(cè)試。圖3.38是USB4.0接收端回波損耗的測(cè)試組網(wǎng)。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) 解決方案USB測(cè)試銷售廠示波器在USB2.0一致性分析測(cè)試方案；

USB測(cè)試

基本介紹隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測(cè)試變得越來(lái)越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測(cè)試。北測(cè)是獲得認(rèn)可的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。測(cè)試服務(wù)USB測(cè)試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測(cè)試·外部裝置·主機(jī)內(nèi)插卡·集線器·系統(tǒng)·集成電路·電線組件·連接器·USBOTG

為了模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響，USB協(xié)會(huì)提供了相應(yīng)的測(cè)試夾具。每套測(cè)試夾具由 很多塊組成，可以模擬相應(yīng)的PCB走線并在中間插入測(cè)試電纜。這些測(cè)試夾具通過(guò)組合可 以進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，也可以進(jìn)行接收容限的測(cè)試，或者進(jìn)行接收容限測(cè)試前的校 準(zhǔn)。圖3 .4是USB協(xié)會(huì)提供的針對(duì)10Gbps的A型接口主機(jī)及Micro-B型接口外設(shè)的測(cè) 試夾具。

除了使用真實(shí)的測(cè)試夾具和電纜來(lái)模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響外，實(shí)際測(cè)試中還可以 用示波器的S參數(shù)嵌入功能來(lái)模擬加入傳輸通道影響，這樣可以簡(jiǎn)化測(cè)試連接，也避免了 夾具反復(fù)插拔造成的特性變化。圖3.5是使用夾具直接引出信號(hào)，并通過(guò)示波器中的S參 數(shù)嵌入功能進(jìn)行通道嵌入的典型的USB3.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試環(huán)境。 USB2.0USB3.0測(cè)試方法區(qū)別？

此外，在USB4中，我們要參考路由器主機(jī)或路由器設(shè)備組件通道預(yù)算。利好是我們?cè)趫?zhí)行USB4一致性測(cè)試時(shí)（其在TP2和TP3測(cè)試點(diǎn)上執(zhí)行），TP2和TP3測(cè)試點(diǎn)的連接或設(shè)置仍是一樣的。新的測(cè)試要求和挑戰(zhàn)USB4中出現(xiàn)了許多新的測(cè)試要求，同時(shí)帶來(lái)了需要解決的對(duì)應(yīng)的測(cè)試挑戰(zhàn)。第一步是發(fā)射機(jī)預(yù)置校準(zhǔn)(Transmitter Present Calibration),這是發(fā)射機(jī)測(cè)試的前提步驟。在這一測(cè)試中，我們捕獲全部16個(gè)預(yù)置波形，然后測(cè)量數(shù)據(jù)確定性抖動(dòng) (DDJ)。在USB4中，在通路初始化過(guò)程中，接收機(jī)會(huì)請(qǐng)求改變預(yù)置值，對(duì)被測(cè)參數(shù)可能并不會(huì)使用比較好的預(yù)置值。因此，比較好先驗(yàn)證和測(cè)量所有其他預(yù)置值，然后再執(zhí)行發(fā)射機(jī)測(cè)試。發(fā)送信號(hào)的測(cè)試USB需要的要求；解決方案USB測(cè)試銷售廠

usb2.0信號(hào)和協(xié)議測(cè)試？設(shè)備USB測(cè)試PCI-E測(cè)試

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出，都考慮到了對(duì)前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對(duì)多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn)。由于USB總線的信號(hào)速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜，所以給設(shè)計(jì)和測(cè)試驗(yàn)證工作帶來(lái)了挑戰(zhàn)，對(duì)于測(cè)試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測(cè)試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開介紹。設(shè)備USB測(cè)試PCI-E測(cè)試