要精確產生PCle要求的壓力眼圖需要調整很多參數，比如輸出信號的幅度、預加重、 差模噪聲、隨機抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個調整參數之間 也會相互制約，比如調整信號的幅度時除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個參數的調 整需要反復進行以得到 一個比較好化的組合。校準中會調用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進行通道模型嵌入和均衡，并計算的眼高和眼寬。如果沒有達到要求，會在誤碼儀中進 一步調整注入的隨機抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達到參數要求。PCI-E4.0的標準什么時候推出？有什么變化？機械PCI-E測試修理

在之前的PCIe規范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個參考時鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個低抖動的時鐘源給被測件提供參考時鐘，并且只需要對 數據線進行測試。而在PCIe4.0的規范中，新增了允許芯片使用內部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內部生成的參考時鐘，但參考時鐘的 質量不一定非常好，測試時需要把參考時鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內嵌參考時鐘且參考時鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進行特殊處理。海南PCI-E測試產品介紹PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區別是什么？

PCIe4.0標準在時鐘架構上除了支持傳統的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發端的時鐘偏差，同時由于有一部分數據線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設置狀態。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關時，正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協議的嗎？

PCIe4.0的測試項目PCIe相關設備的測試項目主要參考PCI-SIG發布的ComplianceTestGuide(一致性測試指南)。在PCIe3.0的測試指南中，規定需要進行的測試項目及其目的如下(參考資料：PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測試):用于檢查主板以及插卡發射機和接收機的電氣性能。·ConfigurationTesting(配置測試):用于檢查PCIe設備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協議測試):用于檢查設備的鏈路層協議行為。PCIE 系統架構及物理層一致性測試；測量PCI-E測試代理品牌

PCI-e硬件科普:PCI-e到底是什么?機械PCI-E測試修理

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似，都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號引出接入示波器進行發送信號質量測試，并通過誤碼儀的配合進行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細節和要求上又有所區別，下面將從發送端和接收端測試方面分別進行描述。

PCIe5.0發送端信號質量及LinkEQ測試PCIe5.0的數據速率高達32Gbps,因此信號邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號測試，協會建議的測試用的示波器帶寬要高達50GHz。對于主板和插卡來說，由于測試點是在連接器的金手指處，信號經過PCB傳輸后邊沿會變緩一些，所以信號質量測試規定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測試中，由于需要用示波器對誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號做幅度和預加重校準，所以校準用的示波器帶寬還是會用到50GHz。 機械PCI-E測試修理