由于每對數據線和參考時鐘都是差分的，所以主  板的測試需要同時占用4個示波器通道，也就是在進行PCIe4.0的主板測試時示波器能夠  4個通道同時工作且達到25GHz帶寬。而對于插卡的測試來說，只需要把差分的數據通道  引入示波器進行測試就可以了，示波器能夠2個通道同時工作并達到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發射機信號質量測試環境。無論是對于發射機測試，還是對于后面要介紹到的接收機容限測試來說，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對，每相鄰線對 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會不一致， 所以需要通過配合合適的ISI線對，使得ISI板上的Trace線加上測試電纜、測試夾具、轉接  頭等模擬出來的整個測試鏈路的插損滿足測試要求。比如，對于插卡的測試來說，對應的主  板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測試夾具、連接器、轉接頭、測  試電纜等的損耗應該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過分析軟件進行模擬)。 為了滿足這個要求，比較好的方法是使用矢量網絡分析儀(VNA)事先進行鏈路標定。所有帶pcie物理插槽的主板都可以插固態硬盤用么？假如能的話插上可以改成引導系統的盤么？江西PCI-E測試銷售電話

項目2.12SystemReceiverLinkEqualizationTest:驗證主板在壓力信號下的接收機性能及誤碼率，可以和對端進行鏈路協商并相應調整對端的預加重，針對8Gbps和16Gbps速率。·項目2.13Add-inCardPLLBandwidth:驗證插卡的PLL環路帶寬，針對時鐘和所有支持的數據速率。·項目2.14Add-inCardPCBImpedance(informative):驗證插卡上走線的PCB阻抗，不是強制測試。·項目2.15SystemBoardPCBImpedance(informative):驗證主板上走線的PCB阻抗，不是強制測試。接下來，我們重點從發射機和接收機的電氣性能測試方面，講解PCIe4.0的物理層測試方法。山西數字信號PCI-E測試PCI-E4.0的標準什么時候推出？有什么變化？

隨著數據速率的提高，芯片中的預加重和均衡功能也越來越復雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡單的去加重(De-emphasis)技術，即信號的發射端(TX)在發送信 號時對跳變比特(信號中的高頻成分)加大幅度發送，這樣可以部分補償傳輸線路對高 頻成分的衰減，從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重，2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對于3代和4代技術來說，由于信號速率更高，需要采用更加 復雜的去加重技術，因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發送以外，在跳變比特的前 1個比特也要增大幅度發送，這個增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應對復雜的鏈路環境，

對于PCIe來說，由于長鏈路時的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實際工 作環境下芯片內部實際接收到的信號質量，在PCIe3.0時代，有些芯片廠商會用自己內置 的工具來掃描接收到的信號質量，但這個功能不是強制的。到了PCIe4.0標準中，規范把 接收端的信號質量掃描功能作為強制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實現是在芯片內部進行二維的誤碼率掃描，即通過調整水平方 向的采樣點時刻以及垂直方向的信號判決閾值，PCIE 5.0，速率翻倍vs性能優化；

P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值，測試過程中應明確當前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進行切換操作非常煩瑣，特別是一些Preset相關的測試項目中需要頻繁切換，為了提高效率，也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設置成使用外部信號，這樣就可以通過函數發生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。PCI-E測試信號完整性測試解決方案；青海PCI-E測試維修電話

PCI-E4.0的發射機質量測試？江西PCI-E測試銷售電話

在測試通道數方面，傳統上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優點是可以比較方便地計算數據通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數據通道接入 示波器測試，這樣信號質量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質量測試組網圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG江西PCI-E測試銷售電話

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