測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬：41.25ps+0/—2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：46mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬：45ps+0/-2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：50mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV 校準時，信號的參數分析和調整需要反復進行，人工操作非常耗時耗力。為了解決這個 問題，接收端容限測試時也會使用自動測試軟件，這個軟件可以提供設置和連接向導、控制 誤碼儀和示波器完成自動校準、發出訓練碼型把被測件設置成環回狀態，并自動進行環回數 據的誤碼率統計。圖4 . 18是典型自動校準和接收容限測試軟件的界面，以及相應的測試PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區別是什么？福建PCI-E測試聯系方式

CTLE均衡器可以比較好地補償傳輸通道的線性損耗，但是對于一些非線性因素(比如 由于阻抗不匹配造成的信號反射)的補償還需要借助于DFE的均衡器，而且隨著信號速率的提升，接收端的眼圖裕量越來越小，采用的DFE技術也相應要更加復雜。在PCle3.0的 規范中，針對8Gbps的信號，定義了1階的DFE配合CTLE完成信號的均衡；而在PCle4.0 的規范中，針對16Gbps的信號，定義了更復雜的2階DFE配合CTLE進行信號的均衡。 圖 4 .5 分別是規范中針對8Gbps和16Gbps信號接收端定義的DFE均衡器(參考資料： PCI   Express@   Base   Specification   4.0)。山東機械PCI-E測試網絡分析儀測試PCIe gen4和gen5，sdd21怎么去除夾具的值?

在測試通道數方面，傳統上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優點是可以比較方便地計算數據通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數據通道接入 示波器測試，這樣信號質量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質量測試組網圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG

校準完成后，在進行正式測試前，很重要的一點就是要能夠設置被測件進入環回模式。 雖然調試時也可能會借助芯片廠商提供的工具設置環回，但標準的測試方法還是要基于鏈  路協商和通信進行被測件環回模式的設置。傳統的誤碼儀不具有對于PCle協議理解的功  能，只能盲發訓練序列，這樣的缺點是由于沒有經過正常的鏈路協商，可能會無法把被測件  設置成正確的狀態。現在一些新型的誤碼儀平臺已經集成了PCIe的鏈路協商功能，能夠  真正和被測件進行訓練序列的溝通，除了可以有效地把被測件設置成正確的環回狀態，還可  以和對端被測設備進行預加重和均衡的鏈路溝通。如果被測件是標準的PCI-E插槽接口，如何進行PCI-E的協議分析？

要精確產生PCle要求的壓力眼圖需要調整很多參數，比如輸出信號的幅度、預加重、 差模噪聲、隨機抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個調整參數之間 也會相互制約，比如調整信號的幅度時除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個參數的調 整需要反復進行以得到 一個比較好化的組合。校準中會調用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進行通道模型嵌入和均衡，并計算的眼高和眼寬。如果沒有達到要求，會在誤碼儀中進 一步調整注入的隨機抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達到參數要求。PCI-e的軟件編程接口;福建PCI-E測試信號完整性測試

PCI-E3.0的接收端測試中的Repeater起作用？福建PCI-E測試聯系方式

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數據鏈路層(Data Link Layer)根據高速串行通信的  特點進行了重新設計，上層的事務層(Transaction)和總線拓撲都與早期的PCI類似，典型  的設備有根設備(Root Complex) 、終端設備(Endpoint), 以及可選的交換設備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設備在北橋芯片內部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe  總線協議層的結構以及相關規范涉及的主要內容。福建PCI-E測試聯系方式

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