當時的HP公司推出狀態分析儀和Biomation公司推出定時分析儀（兩者初很不相同）之后不久，用戶開始接受這種數域測試儀器作為終解決數字電路測試的手段，不久狀態分析儀與定時分析儀合并成邏輯分析儀。20世紀80年代后期，邏輯分析儀變得更加復雜，使用起來也更加困難。例如，引入多電平樹形觸發，以應付條件語句如IF、THEN、ELSE等復雜事件。這類組合觸發必然更加靈活，同時對大多數用戶來說就不是那樣容易掌握了。邏輯分析儀的基本發展趨勢是計算機與儀器的不斷融合。在PC機平臺上使用Windows，只要給定正確的軟件和相關工具。歐奧電子是Prodigy在中國區的官方授權合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協議分析儀，包括嵌入式設備用的SDIO協議分析儀,QSPI協議分析儀及訓練器,I3C協議分析儀及訓練器,RFFE協議分析儀及訓練器等等。我司還有代理SPMI協議分析儀及訓練器,車載以太網分析儀，以及各種相關的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協議抓取和分析的服務。即可通過互聯網進行遠程控制。eSPl協議分析儀/訓練器找歐奧！杭州PCIe Gen5協議分析儀服務商

觸發前獲得/顯示的樣本數量在不同的測量中會有所變化。狀態分析狀態分析儀需要來自被測設備的采樣時鐘信號。這種類型的時鐘計時可使邏輯分析儀中的數據采樣與被測設備中的計時事件同步。具體來講：狀態分析儀適用于顯示“有效時鐘或控制信號”期間的信號活動是“什么”。狀態分析儀側重于查看指定執行時間內的信號活動，而不是與時序無關的信號活動。這就是為什么狀態分析儀需要對與被測設備時鐘信號“同步化”或同步的數據進行采樣。對于微處理器，數據和地址可以出現在相同的信號線上。要采集正確的數據，邏輯分析儀必須對數據采樣加以限制，使之只在所需的數據有效并出現在信號線上時進行。為此，它會從相同的信號線上采集數據樣本，但使用來自被測設備的不同采樣時鐘。示例：以下時序圖表明，要采集地址，分析儀需要在MREQ線下降時進行采樣。要采集數據，分析儀需要在WR線下降（寫周期）或RD線下降（讀周期）時進行采樣。圖7狀態采集觸發狀態分析儀：與定時分析儀相似，狀態分析儀也具有限定要存儲的數據的功能。如果我們正在查找地址總線的上限和下限的特定碼型，當分析儀找到該碼型時，我們可以通知分析儀開始存儲，并且只要分析儀的內存未滿就一直存儲。南京SRIO協議分析儀PCle Gen 3邏輯分析儀/訓練器找歐奧！

歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協議抓取和分析的服務。通過在整個信號活動信封內執行全時掃描，眼定位可以顯示在時間和電壓的小窗口中檢測到的轉變。這些掃描稱為眼圖掃描（eyescan）。像示波器一樣，眼圖掃描用于顯示測量數據。每個窗口中的轉變數量都會突出顯示。這可以使概覽眼型圖案，并確定是否需要使用示波器來進一步詳細地查看信號。圖19眼圖掃描可以運行導致自動設置閾電壓和采樣位置的eyescan，或運行只導致自動設置采樣位置的eyescan。眼定位測量收集數據所基于的通道數量會影響測量時間。當一個模塊中存在多個邏輯分析儀卡時將出現異常；在這種情況下，測量將同時并行運行。支持差分信號的邏輯分析儀中的眼圖掃描EyeScan：支持差分信號的邏輯分析儀（如16962A邏輯分析儀模塊）針對輸入使用真值差分接收器：可編程參考電壓將計入負輸入。這是分析儀采用單端探頭時的閾電壓。對于差分探測的相關操作，通常將參考電壓編寫為0V：隨后將接收器的輸出與0V進行比較，從差分輸入信號產生內部邏輯信號。請注意。

影響邏輯分析儀的正常使用的問題。針對上述提出的問題，在原有的邏輯分析儀基礎上進行創新設計。技術實現要素：解決的技術問題針對現有技術的不足，本實用新型提供了一種便于散熱通風的邏輯分析儀，解決了現有的部分邏輯分析儀常放置于機房內或工作室內，且邏輯分析儀處于相對封閉的狀態，使得邏輯分析儀內部的組件在工作中產生的熱量無法很好地排出，導致邏輯分析儀內部溫度較高，影響邏輯分析儀的正常使用的問題。技術方案為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種便于散熱通風的邏輯分析儀，包括邏輯分析儀本體歐奧電子是Prodigy在中國區的官方授權合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協議分析儀，包括嵌入式設備用的SDIO協議分析儀,QSPI協議分析儀及訓練器,I3C協議分析儀及訓練器,RFFE協議分析儀及訓練器等等。我司還有代理SPMI協議分析儀及訓練器,車載以太網分析儀，以及各種相關的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協議抓取和分析的服務。eMMC邏輯分析儀/訓練器找歐奧！

對于分析高速并行總線就不能勝任了。更進一步的設計，需要增加FPGA、SRAM等器件，才能解決速度不夠和通道數量不足的問題。圖2圖3圖4下面就以Saleae邏輯分析儀為例，通過采樣分析I2C總線波形和PWM波形，簡單介紹它的特點和使用方法。先介紹用邏輯分析儀采樣單片機對I2C器件AT24C16的寫數據過程。硬件連接先將邏輯分析儀的GND與目標板的GND連接，讓二者共地。2.選擇需要采樣的信號，這里就是AT24C16的SDA和SCL，將SDA接入邏輯分析儀的通道1（Input1），SCL接入通道1（Input2）。3.將邏輯分析儀和電腦USB口連接，windows會識別該設備，并在屏幕右下角顯示USB設備標識。軟件使用運行Saleae軟件，此時邏輯分析儀的硬件已經與電腦相連，軟件會顯示[Connected]。2.設置采樣數量和速度，I2C為低速通信，所以速度設置不必太高，這里設置為20MSamples@4MHz的速度，也就是能持續采樣5秒鐘。3.設置協議，點右上角的“Options”按鈕，找到analyzer1，設置為I2C協議，詳見圖1。4.按“Start”按鈕，開始采樣。圖5圖6數據分析采樣結束后，可以看到波形，見圖2。由于我們設置了是I2C分析，因此不光顯示出波形，還有根據I2C協議解碼顯示的字節內容。單片機對AT24C16進行寫入操作。I3C訓練器邏輯分析儀/訓練器找歐奧！深圳UFS3.0協議分析儀售價

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還要對信號進行放，因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應主要分為兩種類型：直流負載和交流負載。直流負載：探頭看起來象一個對地的直流負載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個負載可能會導致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定，這個電阻阻值越，直流負載越小，阻值越小，直流負載越。交流負載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數會減小探頭帶寬和導致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面：探頭電容和探頭與目標連接的連線的電容。探頭導致信號反射的原因是4個方面：探頭電容和電感；探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓撲結構；探頭和目標間連線的長度。對于交流負載，我們需要考慮：探測點在傳輸線的位置，總線的拓撲結構和探頭和目標間連線的長度。探頭的負載除了可以用復雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預估負載效應。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。杭州PCIe Gen5協議分析儀服務商